[發(fā)明專(zhuān)利]一種預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的裝置及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910585624.7
• 申請(qǐng)日: 2019-07-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110309593B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-06-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林潮興;劉朝勝;邱文才;張輝
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 廣東大普通信技術(shù)股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F30/20
• 分類(lèi)號(hào): G06F30/20;G06N3/04;G06N3/06;G06N3/08
• 代理公司: 北京品源專(zhuān)利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，包括：

按照預(yù)設(shè)采樣間隔獲取恒溫晶振與參考源之間的相位差；

若所述相位差小于或等于預(yù)設(shè)閾值，則所述恒溫晶振處于參考源鎖定狀態(tài)，按照預(yù)設(shè)獲取間隔獲取所述恒溫晶振的狀態(tài)參數(shù)至預(yù)設(shè)樣本量閾值，并根據(jù)獲取的狀態(tài)參數(shù)確定對(duì)應(yīng)的老化率BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法，所述狀態(tài)參數(shù)包括電壓參數(shù)、溫度參數(shù)、振動(dòng)頻率參數(shù)、壓力參數(shù)及磁場(chǎng)參數(shù)中至少三種；

若所述相位差大于預(yù)設(shè)閾值，則判斷所述恒溫晶振丟失所述參考源，再獲取與老化率BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法包含的狀態(tài)參數(shù)種類(lèi)相同的狀態(tài)參數(shù)，根據(jù)每個(gè)狀態(tài)參數(shù)及所述老化率BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法確定對(duì)應(yīng)的老化率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，根據(jù)獲取的狀態(tài)參數(shù)確定對(duì)應(yīng)的老化率BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法包括：

根據(jù)獲取的狀態(tài)參數(shù)的種類(lèi)個(gè)數(shù)確定輸入層單元個(gè)數(shù)，根據(jù)所述老化率確定輸出層單元個(gè)數(shù)，并根據(jù)所述輸入層單元個(gè)數(shù)及所述輸出層單元個(gè)數(shù)確定隱含層單元個(gè)數(shù)；

確定所述隱含層及所述輸出層各自的傳遞函數(shù)；

將每個(gè)獲取的狀態(tài)參數(shù)進(jìn)行歸一化處理；

根據(jù)歸一化處理的數(shù)據(jù)及所述傳遞函數(shù)確定對(duì)應(yīng)的老化率BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，并根據(jù)所述輸入層單元個(gè)數(shù)及所述輸出層單元個(gè)數(shù)確定隱含層單元個(gè)數(shù)為：

其中，H為隱含層單元個(gè)數(shù)，M為輸入層單元個(gè)數(shù)，N為輸出層單元個(gè)數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，歸一化處理為：

其中，y_k為歸一化的輸出值，x_k為原始數(shù)據(jù)，x_max為原始數(shù)據(jù)的最大值，x_mix為原始數(shù)據(jù)的最小值，k為序列號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，所述確定所述隱含層及所述輸出層各自的傳遞函數(shù)包括：

確定所述隱含層的傳遞函數(shù)為雙曲正切S型tan-sig傳遞函數(shù)；

確定所述輸出層的傳遞函數(shù)為S型log-sig傳遞函數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，根據(jù)每個(gè)狀態(tài)參數(shù)及所述老化率BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法確定對(duì)應(yīng)的老化率之后還包括：根據(jù)所述老化率及所述預(yù)設(shè)采樣間隔確定對(duì)應(yīng)的需調(diào)節(jié)的數(shù)模轉(zhuǎn)換差值；

根據(jù)所述需調(diào)節(jié)的數(shù)模轉(zhuǎn)換差值調(diào)節(jié)所述恒溫晶振。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的預(yù)測(cè)恒溫晶振老化率的方法，其特征在于，根據(jù)所述老化率及所述預(yù)設(shè)采樣間隔確定對(duì)應(yīng)的需調(diào)節(jié)的數(shù)模轉(zhuǎn)換差值為：

其中，Aging_t為老化率，K為老化系數(shù)，DAC_t-DAC_t-1為需調(diào)節(jié)的數(shù)模轉(zhuǎn)換差值，Δt為預(yù)設(shè)采樣間隔。