[發(fā)明專利]玻璃面板及其制備方法、包含該玻璃面板的顯示屏和終端有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910583822.X | 申請日: | 2019-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN110372222B | 公開(公告)日: | 2022-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龐歡;黃義宏 | 申請(專利權(quán))人: | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | C03C15/00 | 分類號: | C03C15/00;C03C17/30;C03C17/42;G09F9/00 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 玻璃 面板 及其 制備 方法 包含 顯示屏 終端 | ||
1.一種玻璃面板,其特征在于,包括玻璃面板本體和設(shè)置在所述玻璃面板本體一側(cè)表面上的AF防指紋膜,所述玻璃面板本體靠近所述AF防指紋膜的一側(cè)表面具有腐蝕坑,所述玻璃面板設(shè)置有所述AF防指紋膜的一側(cè)的表面粗糙度Ra為8nm-50nm,Rz為20nm-100nm,所述玻璃面板本體具有腐蝕坑的一側(cè)表面的電阻率為1.0×109Ω-9.9×1012Ω,所述玻璃面板本體具有腐蝕坑的一側(cè)表面的羥基親水基團(tuán)的摩爾含量為0.001%-0.1%。
2.如權(quán)利要求1所述的玻璃面板,其特征在于,所述玻璃面板設(shè)置有所述AF防指紋膜的一側(cè)的表面粗糙度Ra為10nm-30nm,Rz為20nm-60nm。
3.如權(quán)利要求1所述的玻璃面板,其特征在于,所述玻璃面板本體具有腐蝕坑的一側(cè)表面的粗糙度Ra為5nm-100nm,Rz為10nm-500nm。
4.如權(quán)利要求1所述的玻璃面板,其特征在于,所述玻璃面板本體和所述AF防指紋膜之間設(shè)置有二氧化硅層。
5.如權(quán)利要求4所述的玻璃面板,其特征在于,所述二氧化硅層的厚度在0.1nm-500nm的范圍內(nèi)。
6.一種玻璃面板的制備方法,其特征在于,包括:
玻璃面板本體經(jīng)化學(xué)強(qiáng)化后,采用化學(xué)刻蝕法進(jìn)行表面活化,使所述玻璃面板本體的表面形成腐蝕坑,所述玻璃面板本體的表面粗糙度Ra控制在5nm-100nm的范圍內(nèi),Rz控制在10nm-500nm的范圍內(nèi);
在活化后的所述玻璃面板本體形成有腐蝕坑的表面制備AF防指紋膜,制備AF防指紋膜后的所述玻璃面板的表面粗糙度Ra為8nm-50nm,Rz為20nm-100nm,所述玻璃面板本體具有腐蝕坑的一側(cè)表面的電阻率為1.0×109Ω-9.9×1012Ω,所述玻璃面板本體具有腐蝕坑的一側(cè)表面的羥基親水基團(tuán)的摩爾含量為0.001%-0.1%。
7.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述化學(xué)刻蝕法包括堿刻蝕和/或酸刻蝕,刻蝕溫度為23℃-99℃,刻蝕時(shí)間為1min-24h。
8.如權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述堿刻蝕采用堿性活化液進(jìn)行浸泡,所述堿性活化液包括堿金屬氫氧化物和/或堿金屬弱酸鹽,以及水和/或有機(jī)溶劑,所述堿性活化液的pH值范圍為8-14。
9.如權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述酸刻蝕采用酸性活化液進(jìn)行浸泡,所述酸性活化液包括氫氟酸或氟化銨類改性溶劑,所述酸性活化液的pH值范圍為1-6。
10.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,采用熱蒸發(fā)或噴涂的方式制備所述AF防指紋膜。
11.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,進(jìn)一步包括,在制備所述AF防指紋膜之前,先在所述玻璃面板本體表面制備二氧化硅層。
12.如權(quán)利要求11所述的制備方法,其特征在于,所述二氧化硅層的厚度在0.1nm-500nm的范圍內(nèi)。
13.一種顯示屏,其特征在于,包括顯示屏模組和覆蓋在所述顯示屏模組上的玻璃面板,所述玻璃面板為權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的玻璃面板。
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