[發(fā)明專利]測試結(jié)構(gòu)和測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910578847.0 | 申請日: | 2019-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN112230112A | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 簡紅;楊曉蕾;王明;任云翔 | 申請(專利權(quán))人: | 中電海康集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 趙囡囡 |
| 地址: | 311121 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 結(jié)構(gòu) 方法 | ||
本申請?zhí)峁┝艘环N測試結(jié)構(gòu)和測試方法,其中,該測試結(jié)構(gòu)包括:至少一個待測試器件組,待測試器件組包括多個串聯(lián)待測試的阻變器件;多個第一開關(guān),第一開關(guān)一一對應(yīng)地與阻變器件并聯(lián);至少兩個測試電極,待測試器件組的兩端分別電連接一個測試電極。解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要對MTJ等阻變器件逐個進(jìn)行測試時,導(dǎo)致的測試效率較低的技術(shù)難題。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及存儲器領(lǐng)域,具體而言,涉及一種測試結(jié)構(gòu)和測試方法。
背景技術(shù)
近年來發(fā)展迅速的磁性隨機(jī)存儲器MRAM具有優(yōu)異的特性:克服了SRAM面積大,尺寸微縮后漏電大的缺點(diǎn);克服了DRAM需要一直進(jìn)行數(shù)據(jù)刷新且功耗大的缺點(diǎn);讀寫時間短和可讀寫次數(shù)較多,這兩個性能比Flash memory的這兩個性能優(yōu)越幾個數(shù)量級。
MTJ是磁性隨機(jī)存儲器MRAM的核心存儲元件,MRAM的讀寫次數(shù)與MTJ器件的壽命直接相關(guān)。在研發(fā)階段為了獲取MRAM的耐用時間的可靠性分布,確保量產(chǎn)階段產(chǎn)品的可靠性,需要對大量的MTJ器件進(jìn)行測試。
目前,我們采用的方法是逐個對MTJ器件進(jìn)行測試,對于大量器件的測試,需要耗費(fèi)很長的時間。
在背景技術(shù)部分中公開的以上信息只是用來加強(qiáng)對本文所描述技術(shù)的背景技術(shù)的理解,因此,背景技術(shù)中可能包含某些信息,這些信息對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說并未形成在本國已知的現(xiàn)有技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本申請的主要目的在于提供一種測試結(jié)構(gòu)和測試方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中對需要對MTJ等阻變器件逐個進(jìn)行測試導(dǎo)致的測試效率較低的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本申請的一個方面,提供了一種測試結(jié)構(gòu),其中,測試結(jié)構(gòu)包括:至少一個待測試器件組,待測試器件組包括多個串聯(lián)待測試的阻變器件;多個第一開關(guān),第一開關(guān)一一對應(yīng)地與阻變器件并聯(lián);至少兩個測試電極,待測試器件組的兩端分別電連接一個測試電極。
進(jìn)一步的,測試結(jié)構(gòu)還包括:多個第一控制電極,第一控制電極與一個第一開關(guān)電連接或者分別與多個第一開關(guān)電連接,第一控制電極用于控制第一開關(guān)的開關(guān)狀態(tài),在第一控制電極與多個第一開關(guān)電連接的情況下,與一個第一控制電極電連接的任意兩個第一開關(guān)與不同的待測試器件組中的阻變器件電連接。
進(jìn)一步的,待測試器件組有一個,測試電極有兩個,第一控制電極與第一開關(guān)一一對應(yīng)電連接。
進(jìn)一步的,待測試器件組有多個,測試電極有兩個,第一控制電極分別與多個第一開關(guān)電連接。
進(jìn)一步的,測試結(jié)構(gòu)還包括:多個第二開關(guān),一個第二開關(guān)電連接在一個測試電極與一個待測試器件組之間,第二開關(guān)與待測試器件組一一對應(yīng)電連接;至少一個第二控制電極,第二控制電極與第二開關(guān)電連接以控制第二開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)。
進(jìn)一步的,第二控制電極有一個,且第二控制電極控制各第二開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)。
進(jìn)一步的,第一開關(guān)和第二開關(guān)獨(dú)立地選自NMOS管、PMOS管、傳輸門或三極管。
進(jìn)一步的,測試電極為信號地結(jié)構(gòu)。
進(jìn)一步的,阻變器件為MTJ。
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