[發明專利]用于生產電控總成的方法及其裝置、生產設備在審
| 申請號： | 201910575815.5 | 申請日： | 2019-06-28 |
| 公開（公告）號： | CN112148309A | 公開（公告）日： | 2020-12-29 |
| 發明（設計）人： | 徐貝貝;董曉莉;曹壬艷;劉聚科;程永甫;高保華 | 申請（專利權）人： | 青島海爾空調器有限總公司;海爾智家股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F8/61 | 分類號： | G06F8/61;H05K3/00 |
| 代理公司： | 北京康盛知識產權代理有限公司 11331 | 代理人： | 張宇峰 |
| 地址： | 266101 山東省*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 生產 總成 方法 及其 裝置 設備 | ||
1.一種用于生產電控總成的方法，所述電控總成包括電路板；其特征在于，所述方法包括：
生產兩個或多個電路板，所述兩個或多個電路板具有相同的硬件和相同的程序；
向每一所述電路板燒寫對應的存儲器參數。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，向每一所述電路板燒寫對應的存儲器參數，包括：
獲得各電路板對應的存儲器參數；
在下線所述電路板后、且總裝所述電控總成之前，向各電路板燒寫對應的存儲器參數。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在下線所述電路板之前，還包括：
檢測所述電路板的硬件功能，確定所述電路板的硬件功能檢測通過。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，檢測所述電路板的硬件功能，確定所述電路板的硬件功能檢測通過，包括：
向所述電路板燒寫第一檢測存儲器參數；
根據所述第一檢測存儲器參數運行所述電路板；
在所述電路板正常工作的情況下，確定所述電路板的硬件功能檢測通過。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一檢測存儲器參數為用于檢測所述兩個或多個電路板硬件功能的通用存儲器參數。
6.根據權利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述第一檢測存儲器參數為所述電路板在第一工作模式下的存儲器參數。
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，向每一所述電路板燒寫對應的存儲器參數之后，還包括：
利用所述電路板，總裝電控總成；
利用第二檢測存儲器參數，檢測所述電控總成的硬件功能；所述第二檢測存儲器參數為部分或全部所述電路板中已燒寫的存儲器參數。
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述第二檢測存儲器參數為所述電路板在第二工作模式下的存儲器參數。
9.一種用于生產電控總成的裝置，包括處理器和存儲有程序指令的存儲器，其特征在于，所述處理器被配置為在執行所述程序指令時，執行如權利要求1至8任一項所述的方法。
10.一種生產設備，其特征在于，包括如權利要求9所述的裝置。
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