[發(fā)明專利]一種裝配間隙的計算方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910572568.3
• 申請日: 2019-06-28
• 公開（公告）號: CN112146585B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉思仁;邢宏文;汪西;王平;方偉;張亞
• 申請（專利權(quán)）人: 上海飛機制造有限公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14;G01B11/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種裝配間隙的計算方法，其特征在于，包括：

獲取第一對接部內(nèi)表面以及外表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第一基準(zhǔn)坐標(biāo)集合；

獲取第二對接部外表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第二基準(zhǔn)坐標(biāo)集合；

在所述第一對接部和所述第二對接部對接過程中，實時獲取所述第一對接部外表面上的采樣點的坐標(biāo)以及所述第二對接部外表面未被所述第一對接部遮擋部分的采樣點的坐標(biāo)，得到第一實時坐標(biāo)集合和第二實時坐標(biāo)集合；

根據(jù)所述第一基準(zhǔn)坐標(biāo)集合和所述第一實時坐標(biāo)集合，實時計算所述第一對接部內(nèi)表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第三實時坐標(biāo)集合；

根據(jù)所述第二基準(zhǔn)坐標(biāo)集合和所述第二實時坐標(biāo)集合，實時計算所述第二對接部外表面被所述第一對接部遮擋部分的采樣點的坐標(biāo)，得到第四實時坐標(biāo)集合；

根據(jù)所述第三實時坐標(biāo)集合和所述第四實時坐標(biāo)集合實時計算所述第一對接部內(nèi)表面和所述第二對接部外表面之間的裝配間隙。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝配間隙的計算方法，其特征在于，獲取第一對接部內(nèi)表面以及外表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第一基準(zhǔn)坐標(biāo)集合之前還包括：

控制激光跟蹤儀測量預(yù)設(shè)觀測點的坐標(biāo)，獲得所述預(yù)設(shè)觀測點在激光跟蹤儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；其中，所述預(yù)設(shè)觀測點位于支撐所述第一對接部和所述第二對接部的工裝支架上；

利用最小二乘法將預(yù)設(shè)觀測點在所述激光跟蹤儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為三維空間坐標(biāo)，建立全局坐標(biāo)系。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝配間隙的計算方法，其特征在于，獲取第一對接部內(nèi)表面以及外表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第一基準(zhǔn)坐標(biāo)集合包括：

控制所述激光跟蹤儀測量第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在全局坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；其中，所述第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點位于所述第一對接部內(nèi)表面和外表面上；

控制攝影測量儀對所述第一對接部拍照，獲取所述第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在攝影測量儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

利用后方交會法將第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在所述攝影測量儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為三維空間坐標(biāo)，建立第一局部坐標(biāo)系；

根據(jù)所述第一預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在所述全局坐標(biāo)系下的坐標(biāo)以及在所述第一局部坐標(biāo)系下的坐標(biāo)計算所述全局坐標(biāo)系和所述第一局部坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣，得到第一轉(zhuǎn)換矩陣；

控制激光掃描儀獲取第一對接部內(nèi)表面以及外表面上的采樣點在第一局部坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

根據(jù)所述第一轉(zhuǎn)換矩陣將第一對接部內(nèi)表面以及外表面上的采樣點在第一局部坐標(biāo)系下的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為在全局坐標(biāo)系下的坐標(biāo)，得到第一基準(zhǔn)坐標(biāo)集合。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝配間隙的計算方法，其特征在于，獲取第二對接部外表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第二基準(zhǔn)坐標(biāo)集合包括：

控制所述激光跟蹤儀測量第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在全局坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；其中，所述第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點位于所述第二對接部外表面上；

控制攝影測量儀對所述第二對接部拍照，獲取所述第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在攝影測量儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

利用后方交會法將第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在所述攝影測量儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為三維空間坐標(biāo)，建立第二局部坐標(biāo)系；

根據(jù)所述第二預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)接點在所述全局坐標(biāo)系下的坐標(biāo)以及在所述第二局部坐標(biāo)系下的坐標(biāo)計算所述全局坐標(biāo)系和所述第二局部坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣，得到第二轉(zhuǎn)換矩陣；

控制激光掃描儀獲取第二對接部外表面上的采樣點在第二局部坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；

根據(jù)所述第二轉(zhuǎn)換矩陣將第二對接部外表面上的采樣點在第二局部坐標(biāo)系下的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為在全局坐標(biāo)系下的坐標(biāo)，得到第二基準(zhǔn)坐標(biāo)集合。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝配間隙的計算方法，其特征在于，獲取第一對接部內(nèi)表面以及外表面上的采樣點的坐標(biāo)，得到第一基準(zhǔn)坐標(biāo)集合之前還包括：

控制攝影測量儀對所述第一對接部以及所述第二對接部拍照，獲取中間采樣點在攝影測量儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)；其中，所述中間采樣點位于所述第一對接部的內(nèi)表面、所述第一對接部的外表面以及所述第二對接部的外表面上；

利用后方交會法將所述中間采樣點在所述攝影測量儀的測量坐標(biāo)系下的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為三維空間坐標(biāo)，建立局部坐標(biāo)系。