[發明專利]使用校正因子的顯微成像方法

有效

• 申請號: 201910558190.1
• 申請日: 2019-06-25
• 公開（公告）號: CN110658617B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: V.德雷舍;N.蘭霍爾茲
• 申請（專利權）人: 卡爾蔡司顯微鏡有限責任公司
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 王蕊瑞

1.一種顯微成像方法，包括以下步驟：

用照明輻射照明樣品(1)并沿著檢測軸線捕獲檢測輻射，所述檢測輻射已經由所述照明輻射引起，

在第一次時作為寬場信號(WF)，以及

在第二次時作為復合信號(CI)，所述復合信號由共焦信號和寬場信號(WF)的疊加來形成，

通過從所述復合信號(CI)減去所述寬場信號(WF)來提取所述共焦信號，

其中使用校正因子，

所述方法的特征在于，

為每個執行的成像和/或為每個成像的樣品(1)確定當前校正因子，以及

使用相應的當前校正因子來提取所述共焦信號。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，出于在距所述樣品(1)的表面(Ao)一距離處沿著檢測軸線所選擇的校正平面中確定當前校正因子的目的，至少一個校正寬場圖像和一個校正復合圖像各被捕獲，其圖像數據被確定并且當前校正因子基于所確定的圖像數據來確定，其中所述校正平面的距離選擇得這么較大，使得沒有所述表面(Ao)的結構穿過所述校正平面。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述距離選自用于捕獲所述檢測輻射的物鏡鏡頭的點擴散函數的四到六個半高全寬的范圍。

4.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，至少一個校正寬場圖像和一個校正復合圖像各在當前焦平面的前面和后面的校正平面中被捕獲。

5.根據權利要求2至4中任一項所述的方法，其特征在于，所述當前校正因子從校正寬場圖像和校正復合圖像的平均亮度來確定。

6.根據權利要求2至5中任一項所述的方法，其特征在于，為校正圖像的每個像素對確定當前校正因子。