[發(fā)明專利]一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910555383.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110289040B | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃凱;鄭昌立;余慜;修思文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué);南方電網(wǎng)科學(xué)研究院有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/42 | 分類號(hào): | G11C29/42;G11C29/44 |
| 代理公司: | 杭州浙科專利事務(wù)所(普通合伙) 33213 | 代理人: | 吳秉中 |
| 地址: | 310013 浙江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 系統(tǒng) 芯片 bist ecc 結(jié)合 存儲(chǔ)器 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于包括BIST模塊、ECC模塊和存儲(chǔ)器,具體方法如下:
當(dāng)ECC模塊檢測(cè)到寫入與讀出存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)不一致,并且存在一比特的錯(cuò)誤數(shù)據(jù),則調(diào)用ECC糾正算法,對(duì)錯(cuò)誤的一比特進(jìn)行糾正,再返回BIST模塊,BIST模塊給出正確的結(jié)果;
當(dāng)ECC模塊沒有檢測(cè)到錯(cuò)誤,則BIST模塊給出正確的結(jié)果;
當(dāng)如果存在兩比特及以上的錯(cuò)誤,則ECC模塊并沒有糾正,返回給BIST模塊時(shí),檢測(cè)到錯(cuò)誤的數(shù)據(jù),BIST模塊給出錯(cuò)誤的結(jié)果反饋。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于所述的BIST模塊給出使能控制操作,產(chǎn)生地址和數(shù)據(jù),向存儲(chǔ)器某一區(qū)域發(fā)起寫操作,數(shù)據(jù)經(jīng)過ECC編碼,得到編碼數(shù)據(jù),原數(shù)據(jù)存入存儲(chǔ)器;BIST模塊使能控制信號(hào),發(fā)起對(duì)存儲(chǔ)器同一地址的讀操作,讀出的數(shù)據(jù)經(jīng)過ECC編碼,與寫入時(shí)的編碼數(shù)據(jù)對(duì)比。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于有兩比特以上的錯(cuò)誤,經(jīng)過ECC校驗(yàn)后會(huì)把出錯(cuò)的存儲(chǔ)單元地址記錄下來(lái)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于當(dāng)ECC模塊正常時(shí),BIST模塊復(fù)用ECC模塊,當(dāng)ECC模塊不可用時(shí),BIST模塊不復(fù)用ECC模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于當(dāng)寫入存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)與讀出的數(shù)據(jù)相同時(shí),輸入數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和與讀出數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和是一致的,ECC模塊不會(huì)檢測(cè)到錯(cuò)誤,讀出的數(shù)據(jù)返回給BIST模塊檢測(cè),得到的數(shù)據(jù)與寫入的原始數(shù)據(jù)一致,系統(tǒng)給出正確的信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于對(duì)于存在一比特的錯(cuò)誤的情況,寫入數(shù)據(jù)存在某一位被異常修改,與原始數(shù)據(jù)不一致,ECC模塊檢驗(yàn)時(shí),讀出數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和與寫入的數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和不相同,ECC糾正功能啟動(dòng)并把數(shù)據(jù)錯(cuò)誤位置的數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)修正,然后傳回給BIST模塊進(jìn)行BIST的校驗(yàn),錯(cuò)誤位置數(shù)據(jù)已經(jīng)被修正,與原始寫入的數(shù)據(jù)一致,BIST檢測(cè)到的結(jié)果是正確的,BIST模塊認(rèn)為該區(qū)域的存儲(chǔ)器沒有壞,是可以用的,系統(tǒng)仍然給出正確的結(jié)果反饋。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種系統(tǒng)芯片中BIST與ECC結(jié)合的存儲(chǔ)器檢測(cè)方法,其特征在于對(duì)于有兩比特及以上的數(shù)據(jù)發(fā)生錯(cuò)誤時(shí),ECC模塊檢測(cè)時(shí)讀出數(shù)據(jù)的檢驗(yàn)和與寫入的數(shù)據(jù)的校驗(yàn)和不一致,但ECC模塊只能檢測(cè)出錯(cuò)誤,不能糾正錯(cuò)誤,返回給BIST模塊的數(shù)據(jù)仍然是錯(cuò)誤的數(shù)據(jù),BIST模塊檢測(cè)到的結(jié)果是錯(cuò)誤的,系統(tǒng)會(huì)給出錯(cuò)誤的反饋。
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G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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- 半導(dǎo)體集成電路裝置
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- SSD BIST測(cè)試的方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 糾錯(cuò)碼控制器和包括該糾錯(cuò)碼控制器的存儲(chǔ)器系統(tǒng)
- 糾錯(cuò)處理的方法、裝置及固態(tài)硬盤設(shè)備
- 基于數(shù)據(jù)總線的ECC糾錯(cuò)方法及系統(tǒng)
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- 一種ECC內(nèi)存管理器、方法及電子設(shè)備
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、校驗(yàn)方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





