[發明專利]一種偏光片的異物鑒定方法

在審

• 申請號: 201910539820.0
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN111458307A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 鐘鐵濤;梁郅旺;周婷婷;孫琴;霍丙忠
• 申請（專利權）人: 深圳市三利譜光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/3563
• 分類號: G01N21/3563;G02F1/13
• 代理公司: 深圳市鼎泰正和知識產權代理事務所(普通合伙) 44555
• 代理人: 陳文姬

本發明公開了一種偏光片的異物鑒定方法，包括以下步驟：削片的步驟：確定偏光片內異物所處的位置，對偏光片進行削片，通過控制削片的深度，使得異物裸露出來；提取異物的步驟：用樣品針將所述削片的步驟中裸露的異物提取出來，得到異物樣品；鑒定異物的步驟：用紅外光譜儀對所述異物樣品進行檢測，得到紅外光譜圖；將所述紅外光譜圖與數據庫中的紅外光譜圖進行比對，從而確定異物的成分。本發明能夠鑒定偏光片內的異物的成分，從而判斷偏光片內的異物的來源。

技術領域

本發明涉及偏光片，尤其涉及一種偏光片的異物鑒定方法。

背景技術

偏光片是產生偏振光的光學功能薄膜，液晶面板的成像必須依靠偏振光，因而偏光片是液晶面板的關鍵零件。偏光片的基本結構是由下列膜材依次復合而成：保護膜、三醋酸纖維素(TAC)、聚乙烯醇(PVA)、三醋酸纖維素(TAC)、壓敏膠(PSA)、離型膜；其中起到偏振作用的是PVA，PVA兩側復合具有高光透過率，并有一定機械強度的TAC薄膜進行保護。

偏光片是由幾層膜材復合組成，生產工藝流程比較復雜，工藝過程中使用的物料眾多，在多層膜材復合的過程中，在層與層之間容易引入異物造成偏光片品質不良，影響產品的美觀和質量，更嚴重的是，影響整個液晶顯示器的顯示效果，給企業帶來不可估計的經濟損失。此外，偏光片的厚度為100-200um，在高倍數的金相顯微鏡下雖然可以看到異物處于偏光片的哪個夾層之間，但無法檢測異物的具體成分，無法找到產生異物的源頭；而紅外光譜儀由于無法直接穿透多層結構的偏光片，所以也不能直接檢測偏光片中的異物的成分。

因而，研發一種能夠鑒定偏光片內的異物的方法顯得尤為重要，它可以明確偏光片內的異物的成分，從而判斷偏光片內的異物的來源，可以及時地對生產方式進行改進，有效降低偏光片的不良率，減少企業的經濟損失。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種偏光片的異物鑒定方法，可以鑒定偏光片內的異物的成分，從而判斷偏光片內的異物的來源。

本發明的目的采用如下技術方案實現：

一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，包括以下步驟：

削片的步驟：確定偏光片內異物所處的位置，對偏光片進行削片，通過控制削片的深度，使得異物裸露出來；

提取異物的步驟：用樣品針將所述削片的步驟中裸露的異物提取出來，得到異物樣品；

鑒定異物的步驟：用紅外光譜儀對所述異物樣品進行檢測，得到紅外光譜圖；將所述紅外光譜圖與數據庫中的紅外光譜圖進行比對，從而確定異物的成分。

進一步地，所述鑒定異物的步驟中，所述紅外光譜儀的檢測模式為透射；所述紅外光譜儀的檢測器為冷卻后，分辨率為4-16cm^-1；所述紅外光譜儀的采集條件為1-25s掃描8-128次。

進一步地，所述鑒定異物的步驟中，所述紅外光譜儀的檢測模式為透射；所述紅外光譜儀的檢測器為冷卻后，分辨率為4cm^-1或8cm^-1；所述紅外光譜儀的采集條件為12s掃描64次或3s掃描16次。

進一步地，所述削片的步驟中，使用高倍數的金相顯微鏡確認異物的位置；使用旋轉削片機進行削片。

進一步地，所述削片的步驟中，削片深度為異物距離所述偏光片的上表面的深度。

進一步地，所述削片的步驟中，所述偏光片的保護層厚度為20-80μm，削片深度為10-120μm。

進一步地，所述削片的步驟之前還包括固定的步驟，所述固定的步驟為將所述偏光片水平地粘貼在玻璃上，然后轉移至削片平臺上。

進一步地，所述鑒定異物的步驟中，數據庫中的紅外光譜圖為偏光片生產過程中使用的輔材以及接觸的環境異物的紅外光譜圖。