[發(fā)明專利]一種偏光片的異物鑒定方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910539820.0
• 申請日: 2019-06-19
• 公開（公告）號: CN111458307A
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鐘鐵濤;梁郅旺;周婷婷;孫琴;霍丙忠
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市三利譜光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/3563
• 分類號: G01N21/3563;G02F1/13
• 代理公司: 深圳市鼎泰正和知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44555
• 代理人: 陳文姬

1.一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，包括以下步驟：

削片的步驟：確定偏光片內(nèi)異物所處的位置，對偏光片進行削片，通過控制削片的深度，使得異物裸露出來；

提取異物的步驟：用樣品針將所述削片的步驟中裸露的異物提取出來，得到異物樣品；

鑒定異物的步驟：用紅外光譜儀對所述異物樣品進行檢測，得到紅外光譜圖；將所述紅外光譜圖與數(shù)據(jù)庫中的紅外光譜圖進行比對，從而確定異物的成分。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述鑒定異物的步驟中，所述紅外光譜儀的檢測模式為透射；所述紅外光譜儀的檢測器為冷卻后，分辨率為4-16cm^-1；所述紅外光譜儀的采集條件為1-25s掃描8-128次。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述鑒定異物的步驟中，所述紅外光譜儀的檢測模式為透射；所述紅外光譜儀的檢測器為冷卻后，分辨率為4cm^-1或8cm^-1；所述紅外光譜儀的采集條件為12s掃描64次或3s掃描16次。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述削片的步驟中，使用高倍數(shù)的金相顯微鏡確認異物的位置；使用旋轉(zhuǎn)削片機進行削片。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述削片的步驟中，削片深度為異物距離所述偏光片的上表面的深度。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述削片的步驟中，所述偏光片的保護層厚度為20-80μm，削片深度為10-120μm。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述削片的步驟之前還包括固定的步驟，所述固定的步驟為將所述偏光片水平地粘貼在玻璃上，然后轉(zhuǎn)移至削片平臺上。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述鑒定異物的步驟中，數(shù)據(jù)庫中的紅外光譜圖為偏光片生產(chǎn)過程中使用的輔材以及接觸的環(huán)境異物的紅外光譜圖。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種偏光片的異物鑒定方法，其特征在于，所述輔材包括PS隔板、打印紙、泡棉、乳膠手套和打印紙；所述環(huán)境異物包括粉塵、人體皮屑和毛發(fā)。