[發(fā)明專利]一種非均勻刻度識別方法、裝置及計算機(jī)存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910528095.7
• 申請日: 2019-06-18
• 公開（公告）號: CN110245624A
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 許華旸;王立平;劉得利;王志超;劉彥雨
• 申請（專利權(quán)）人: 北京史河科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京樂知新創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11734
• 代理人: 江宇

1.一種非均勻刻度識別方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取目標(biāo)刻度圖像；

根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值；

獲取指針對應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指針位置；

根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計算指針讀數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值包括：

根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像順次獲取對應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的多個刻度段和對應(yīng)于每一個所述刻度段的第一邊界值和第二邊界值，所述第一邊界值為對應(yīng)所述刻度段的最小刻度值，所述第二邊界值為所述刻度段的最大刻度值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計算指針讀數(shù)包括：

根據(jù)所述指針位置獲取對應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指向刻度段以及對應(yīng)于所述指向刻度段的第一邊界值和第二邊界值；

獲取所述指針位置對應(yīng)于所述指向刻度段的相對位置數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述相對位置數(shù)據(jù)和所述指向刻度段計算指針讀數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述獲取所述指針位置對應(yīng)于所述指向刻度段的相對位置數(shù)據(jù)包括：

獲取所述指向刻度段的刻度段角度以及所述指針位置與所述指向刻度段的第一邊界夾角；

將所述第一邊界夾角與所述刻度段角度的比值確定為相對位置數(shù)據(jù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述相對位置數(shù)據(jù)和所述指向刻度段計算指針讀數(shù)包括：

計算對應(yīng)于所述指向刻度段的所述第二邊界值與所述第一邊界值的差值，得到所述指向刻度段的總段值；

將所述相對位置數(shù)據(jù)與所述指向刻度段的總段值的乘積作為第一參數(shù)；

將所述指向刻度段的第一邊界值確定為第二參數(shù)；

將所述第一參數(shù)與所述第二參數(shù)的和確定為所述指針讀數(shù)。

6.一種非均勻刻度識別裝置，其特征在于，所述裝置包括：

目標(biāo)圖像獲取模塊，用于獲取目標(biāo)刻度圖像；

刻度段值獲取模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值；

指針位置獲取模塊，用于獲取指針對應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指針位置；

指針讀數(shù)計算模塊，用于根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計算指針讀數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述刻度段值獲取模塊進(jìn)一步用于，根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像順次獲取對應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的多個刻度段和對應(yīng)于每一個所述刻度段的第一邊界值和第二邊界值，所述第一邊界值為對應(yīng)所述刻度段的最小刻度值，所述第二邊界值為所述刻度段的最大刻度值。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述指針讀數(shù)計算模塊包括：

指向刻度獲取單元，用于根據(jù)所述指針位置獲取對應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指向刻度段以及對應(yīng)于所述指向刻度段的第一邊界值和第二邊界值；

相對位置獲取單元，用于獲取所述指針位置對應(yīng)于所述指向刻度段的相對位置數(shù)據(jù)；

指針讀數(shù)計算單元，用于根據(jù)所述相對位置數(shù)據(jù)和所述指向刻度段計算指針讀數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述相對位置獲取單元包括：

角度獲取子單元，用于獲取所述指向刻度段的刻度段角度以及所述指針位置與所述指向刻度段的第一邊界夾角；

位置確定子單元，用于將所述第一邊界夾角與所述刻度段角度的比值確定為相對位置數(shù)據(jù)。