[發(fā)明專利]一種非均勻刻度識(shí)別方法、裝置及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910528095.7
• 申請(qǐng)日: 2019-06-18
• 公開（公告）號(hào): CN110245624A
• 公開（公告）日: 2019-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許華旸;王立平;劉得利;王志超;劉彥雨
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京史河科技有限公司
• 主分類號(hào): G06K9/00
• 分類號(hào): G06K9/00
• 代理公司: 北京樂知新創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11734
• 代理人: 江宇

本發(fā)明公開了一種非均勻刻度識(shí)別方法、裝置及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：獲取目標(biāo)刻度圖像；根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對(duì)應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值；獲取指針對(duì)應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指針位置；根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計(jì)算指針讀數(shù)。本發(fā)明實(shí)施例通過將不均勻刻度的儀表盤劃分為多個(gè)刻度段，并根據(jù)指針在具體刻度段內(nèi)的位置和刻度段值來計(jì)算指針讀數(shù)，有效提高了機(jī)器對(duì)非均勻指針儀表盤的刻度的識(shí)別準(zhǔn)確率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及圖像識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種非均勻刻度識(shí)別方法、裝置及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

在現(xiàn)代社會(huì)的生產(chǎn)生活中，指針式刻度儀表是廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域的測(cè)量儀表，其價(jià)格便宜，數(shù)量巨大，種類繁多。近年來，機(jī)器視覺技術(shù)和數(shù)字圖像處理技術(shù)發(fā)展迅速，基于機(jī)器視覺的各種檢測(cè)系統(tǒng)在工業(yè)領(lǐng)域中逐步走向?qū)嵱没Ｒ虼搜芯繖C(jī)器視覺實(shí)現(xiàn)指針式刻度儀表的刻度識(shí)別具有非常重大的應(yīng)用價(jià)值和社會(huì)意義。

為解決人工讀數(shù)過程中勞動(dòng)量大，容易出錯(cuò)等問題，現(xiàn)有技術(shù)通常通過指針式刻度儀表自動(dòng)識(shí)別技術(shù)來降低工人的勞動(dòng)強(qiáng)度，同時(shí)提高儀表刻度數(shù)讀取的自動(dòng)化程度。現(xiàn)有技術(shù)中機(jī)器視覺讀取指針儀表的讀數(shù)，一般是通過圖像處理方法獲取到指針儀表指針的傾斜角度，然后根據(jù)傾斜角度和表的全量程換算出當(dāng)前指針儀表的讀數(shù)。但是這種方法只適用于刻度均勻線性的指針儀表盤，然而工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)有很多場(chǎng)合的指針儀表盤的刻度線間隔不是均勻的，對(duì)刻度不均勻的指針儀表盤適用傳統(tǒng)的指針角度和全量程相對(duì)應(yīng)的方法將導(dǎo)致較大誤差。

因此，如何提高機(jī)器對(duì)非均勻指針儀表盤的刻度的識(shí)別準(zhǔn)確率成為當(dāng)前亟待解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例為了有效克服現(xiàn)有技術(shù)所存在的上述缺陷，創(chuàng)造性地提供一種非均勻刻度識(shí)別方法，所述方法包括：獲取目標(biāo)刻度圖像；根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對(duì)應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值；獲取指針對(duì)應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指針位置；根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計(jì)算指針讀數(shù)。

在一可實(shí)施方式中，所述根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對(duì)應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值包括：根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像順次獲取對(duì)應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的多個(gè)刻度段和對(duì)應(yīng)于每一個(gè)所述刻度段的第一邊界值和第二邊界值，所述第一邊界值為對(duì)應(yīng)所述刻度段的最小刻度值，所述第二邊界值為所述刻度段的最大刻度值。

在一可實(shí)施方式中，所述根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計(jì)算指針讀數(shù)包括：根據(jù)所述指針位置獲取對(duì)應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指向刻度段以及對(duì)應(yīng)于所述指向刻度段的第一邊界值和第二邊界值；獲取所述指針位置對(duì)應(yīng)于所述指向刻度段的相對(duì)位置數(shù)據(jù)；根據(jù)所述相對(duì)位置數(shù)據(jù)和所述指向刻度段計(jì)算指針讀數(shù)。

在一可實(shí)施方式中，所述獲取所述指針位置對(duì)應(yīng)于所述指向刻度段的相對(duì)位置數(shù)據(jù)包括：獲取所述指向刻度段的刻度段角度以及所述指針位置與所述指向刻度段的第一邊界夾角；將所述第一邊界夾角與所述刻度段角度的比值確定為相對(duì)位置數(shù)據(jù)。

在一可實(shí)施方式中，所述根據(jù)所述相對(duì)位置數(shù)據(jù)和所述指向刻度段計(jì)算指針讀數(shù)包括：計(jì)算對(duì)應(yīng)于所述指向刻度段的所述第二邊界值與所述第一邊界值的差值，得到所述指向刻度段的總段值；將所述相對(duì)位置數(shù)據(jù)與所述指向刻度段的總段值的乘積作為第一參數(shù)；將所述指向刻度段的第一邊界值確定為第二參數(shù)；將所述第一參數(shù)與所述第二參數(shù)的和確定為所述指針讀數(shù)。

本發(fā)明另一方面提供一種非均勻刻度識(shí)別裝置，所述裝置包括：目標(biāo)圖像獲取模塊，用于獲取目標(biāo)刻度圖像；刻度段值獲取模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像獲取對(duì)應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的刻度段值；指針位置獲取模塊，用于獲取指針對(duì)應(yīng)于所述目標(biāo)刻度圖像中的指針位置；指針讀數(shù)計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述指針位置和所述刻度段值計(jì)算指針讀數(shù)。

在一可實(shí)施方式中，所述刻度段值獲取模塊包括：多刻度獲取單元，用于根據(jù)所述目標(biāo)刻度圖像順次獲取對(duì)應(yīng)所述目標(biāo)刻度圖像的多個(gè)刻度段和對(duì)應(yīng)于每一個(gè)所述刻度段的第一邊界值和第二邊界值，所述第一邊界值為對(duì)應(yīng)所述刻度段的最小刻度值，所述第二邊界值為所述刻度段的最大刻度值。