[發明專利]一種時序特性獲取方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 201910522005.3
• 申請日: 2019-06-17
• 公開（公告）號: CN110263417A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發明（設計）人: 許婷;閆珍珍;郭燕萍;卜建輝;劉海南;羅家俊;韓鄭生
• 申請（專利權）人: 中國科學院微電子研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京華沛德權律師事務所 11302
• 代理人: 房德權

本發明實施例涉及數據處理技術領域，具體而言，涉及一種時序特性獲取方法、裝置及電子設備，該方法首先根據測試數據生成特征曲線，其次根據特征曲線獲取梯度曲線，然后根據梯度曲線查找出位于設定梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值，最后根據位于設定梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值確定特征曲線的特征值，通過將特征曲線轉換為梯度曲線，有效解決了無法對離散的特征曲線求導的問題，直接通過梯度曲線確定特征值，避免了對特征值進行逐一獲取，能夠高效、準確地確定特征曲線的特征值，從而高效、準確地確定時序邏輯單元的時序特性。

技術領域

本發明實施例涉及時序特性獲取技術領域，具體而言，涉及一種時序特性獲取方法、裝置及電子設備。

背景技術

時序邏輯單元，如標準單元庫中的觸發器及鎖存器等，是大規模集成電路芯片的重要組成部分。時序邏輯單元的時序特性對集成電路芯片的性能至關重要。隨著集成電路芯片技術的發展，現有技術難以高效、準確地確定時序邏輯單元的時序特性。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種時序特性獲取方法、裝置及電子設備。

本發明實施例提供了一種時序特性獲取方法，包括：

獲取時序邏輯單元的測試數據，根據所述測試數據生成特征曲線；

根據所述特征曲線獲取梯度曲線；

基于所述梯度曲線查找出位于設定梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值；

根據所述位于設定梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值確定所述特征曲線的特征值。

可選地，所述方法還包括：

基于所述梯度曲線查找出位于預設梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值；

根據所述位于預設梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值確定所述特征曲線的延時時長值。

可選地，根據所述橫坐標值確定所述特征曲線的特征值的步驟，包括：

若所述橫坐標值為多個，確定多個所述橫坐標值的中位數，根據所述中位數確定所述特征值。

可選地，根據所述位于預設梯度范圍內的至少一個梯度值對應的橫坐標值確定所述特征曲線的延時時長值的步驟，包括：

若位于所述預設梯度范圍內的梯度值為多個，將位于所述預設梯度范圍內的每個梯度值對應的橫坐標值代入所述特征曲線中，獲得對應的縱坐標值；

確定所有縱坐標值的眾數，根據所述眾數確定所述延時時長值。

可選地，所述設定梯度范圍通過以下步驟得到：

基于所述梯度曲線確定設定梯度值；

接收輸入的精度值；

根據所述設定梯度值和所述精度值確定所述設定梯度范圍。

可選地，所述預設梯度范圍通過以下步驟得到：

基于所述梯度曲線確定預設梯度值；

接收輸入的精度值；

根據所述預設梯度值和所述精度值確定所述預設梯度范圍。

可選地，根據所述特征曲線獲取梯度曲線的步驟之前，所述方法還包括：

對所述特征曲線進行平滑處理。

本發明實施例還提供了一種時序特性獲取裝置，包括：

特征曲線生成模塊，用于獲取時序邏輯單元的測試數據，根據所述測試數據生成特征曲線；

梯度曲線獲取模塊，用于根據所述特征曲線獲取梯度曲線；