[發(fā)明專利]一種時序特性獲取方法、裝置及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910522005.3
• 申請日: 2019-06-17
• 公開（公告）號: CN110263417A
• 公開（公告）日: 2019-09-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 許婷;閆珍珍;郭燕萍;卜建輝;劉海南;羅家俊;韓鄭生
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院微電子研究所
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 11302
• 代理人: 房德權(quán)

本發(fā)明實施例涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種時序特性獲取方法、裝置及電子設(shè)備，該方法首先根據(jù)測試數(shù)據(jù)生成特征曲線，其次根據(jù)特征曲線獲取梯度曲線，然后根據(jù)梯度曲線查找出位于設(shè)定梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值，最后根據(jù)位于設(shè)定梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值確定特征曲線的特征值，通過將特征曲線轉(zhuǎn)換為梯度曲線，有效解決了無法對離散的特征曲線求導(dǎo)的問題，直接通過梯度曲線確定特征值，避免了對特征值進行逐一獲取，能夠高效、準確地確定特征曲線的特征值，從而高效、準確地確定時序邏輯單元的時序特性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實施例涉及時序特性獲取技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種時序特性獲取方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

時序邏輯單元，如標準單元庫中的觸發(fā)器及鎖存器等，是大規(guī)模集成電路芯片的重要組成部分。時序邏輯單元的時序特性對集成電路芯片的性能至關(guān)重要。隨著集成電路芯片技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)有技術(shù)難以高效、準確地確定時序邏輯單元的時序特性。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供了一種時序特性獲取方法、裝置及電子設(shè)備。

本發(fā)明實施例提供了一種時序特性獲取方法，包括：

獲取時序邏輯單元的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)生成特征曲線；

根據(jù)所述特征曲線獲取梯度曲線；

基于所述梯度曲線查找出位于設(shè)定梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值；

根據(jù)所述位于設(shè)定梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值確定所述特征曲線的特征值。

可選地，所述方法還包括：

基于所述梯度曲線查找出位于預(yù)設(shè)梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值；

根據(jù)所述位于預(yù)設(shè)梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值確定所述特征曲線的延時時長值。

可選地，根據(jù)所述橫坐標值確定所述特征曲線的特征值的步驟，包括：

若所述橫坐標值為多個，確定多個所述橫坐標值的中位數(shù)，根據(jù)所述中位數(shù)確定所述特征值。

可選地，根據(jù)所述位于預(yù)設(shè)梯度范圍內(nèi)的至少一個梯度值對應(yīng)的橫坐標值確定所述特征曲線的延時時長值的步驟，包括：

若位于所述預(yù)設(shè)梯度范圍內(nèi)的梯度值為多個，將位于所述預(yù)設(shè)梯度范圍內(nèi)的每個梯度值對應(yīng)的橫坐標值代入所述特征曲線中，獲得對應(yīng)的縱坐標值；

確定所有縱坐標值的眾數(shù)，根據(jù)所述眾數(shù)確定所述延時時長值。

可選地，所述設(shè)定梯度范圍通過以下步驟得到：

基于所述梯度曲線確定設(shè)定梯度值；

接收輸入的精度值；

根據(jù)所述設(shè)定梯度值和所述精度值確定所述設(shè)定梯度范圍。

可選地，所述預(yù)設(shè)梯度范圍通過以下步驟得到：

基于所述梯度曲線確定預(yù)設(shè)梯度值；

接收輸入的精度值；

根據(jù)所述預(yù)設(shè)梯度值和所述精度值確定所述預(yù)設(shè)梯度范圍。

可選地，根據(jù)所述特征曲線獲取梯度曲線的步驟之前，所述方法還包括：

對所述特征曲線進行平滑處理。

本發(fā)明實施例還提供了一種時序特性獲取裝置，包括：

特征曲線生成模塊，用于獲取時序邏輯單元的測試數(shù)據(jù)，根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)生成特征曲線；

梯度曲線獲取模塊，用于根據(jù)所述特征曲線獲取梯度曲線；