[發明專利]一種硅鋼片測量的定位平臺及方法有效
| 申請號: | 201910512672.3 | 申請日: | 2019-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN110174061B | 公開(公告)日: | 2021-10-01 |
| 發明(設計)人: | 顧岳飛;郭元超 | 申請(專利權)人: | 上海電氣集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02;G01B11/06 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人: | 俞滌炯 |
| 地址: | 200050 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 硅鋼片 測量 定位 平臺 方法 | ||
本發明公開了一種硅鋼片測量的定位平臺,包括:工作平臺,用于承載所述硅鋼片;縱向絲桿驅動機構,用于推動所述硅鋼片縱向移動;第一橫向絲桿驅動機構與第二橫向絲桿驅動機構,都用于推動所述硅鋼片橫向移動,且第一橫向絲桿驅動機構推動所述硅鋼片移動的方向與第二橫向絲桿驅動機構推動所述硅鋼片移動的方向相反;限位機構,設于所述工作平臺邊沿,用于對所述硅鋼片形成限位。本發明還公開了一種硅鋼片測量的定位方法,本發明提供的定位平臺與產線工序銜接,將硅鋼片放到工作臺的指定測量區域內,利用絲桿驅動機構兩個方向的自動移動,準確定位硅鋼片樣板位置并完成測量,代替人工操作,提高效率,且能夠避免人為誤操作。
技術領域
本發明涉及測量領域,特別涉及一種硅鋼片測量的定位平臺。
背景技術
鋼廠用于測量硅鋼片樣板的厚度、長度、毛刺和邊浪,主要測量硅鋼片樣板三條邊的厚度和長度,及兩端的毛刺高度和邊浪形狀。目前硅鋼片的測量過程都是通過人工擺放硅鋼片樣板至規定位置后測量,檢測好第一條邊后,再由人工旋轉后測量第二條邊和第三條邊。由于整個過程中都需要人工擺放硅鋼片樣板,操作繁瑣,效率低下,且測量數據有誤差。
鑒于此,克服上述現有技術所存在的缺陷是本領域亟待解決的問題。
發明內容
為了克服現有技術中的問題,本發明提供了一種硅鋼片測量的自動定位平臺及方法。
為了實現上述目的,本發明公開的一種硅鋼片測量的定位平臺,包括:
工作平臺,用于承載所述硅鋼片;
絲桿驅動機構,設于所述工作平臺下方,用于推動所述硅鋼片移動,
限位機構,設于所述工作平臺邊沿,用于對所述硅鋼片形成限位;
其中,所述絲桿驅動機構包括,
縱向絲桿驅動機構,用于推動所述硅鋼片縱向移動;
第一橫向絲桿驅動機構與第二橫向絲桿驅動機構,都用于推動所述硅鋼片橫向移動,且第一橫向絲桿驅動機構推動所述硅鋼片移動的方向與第二橫向絲桿驅動機構推動所述硅鋼片移動的方向相反,
所述縱向絲桿驅動機構與所述第一橫向絲桿驅動機構和所述第二橫向絲桿驅動機構垂直設置。
進一步地,所述絲桿驅動機構包括:
絲桿;
伺服電機,用于驅動所述絲桿轉動;
滑塊,所述滑塊套設于所述絲桿上,且所述滑塊在所述絲桿上移動。
進一步地,所述絲桿驅動機構還包括:
推桿,固定設于所述滑塊上;
推行塊,固定設于所述推行桿兩端;
所述工作平臺設有通槽,所述推行塊穿過所述通槽且高于所述所述工作平臺,所述推行塊用于推動所述硅鋼片移動。
進一步地,所述絲桿驅動機構上設有位移傳感器,用于測量所述硅鋼片的移動距離;
所述限位機構上設有定位傳感器,用于定位所述硅鋼片。
進一步地,所述限位機構包括:
限位支架,與所述工作平臺連接;限位塊,設于所述限位支架兩端;
直線滑臺模組,限位機構的限位支架與所述直線滑臺模組連接,且限位機構的限位支架在所述直線滑臺模組上滑動。
進一步地,本發明提供的硅鋼片測量的定位平臺還包括:自動行走裝置,所述自動行走裝置設于所述工作平臺邊沿,與所述限位機構對應設置;
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