[發(fā)明專利]一種提高氮化硅鈍化性能的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910509923.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110137312A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐冠超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天合光能股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18 |
| 代理公司: | 浙江永鼎律師事務(wù)所 33233 | 代理人: | 郭小麗 |
| 地址: | 213022 江蘇省常*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 氮化硅沉積 氮化硅鈍化 等離子 反應(yīng)腔 微波源 轟擊 體內(nèi) 機(jī)臺(tái) 等離子轟擊 板式 電池效率 影響電池 氮化硅 管式 硅烷 半成品 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種提高氮化硅鈍化性能的方法,包括以下步驟:a.在氮化硅沉積完成以后,太陽(yáng)電池半成品繼續(xù)留在反應(yīng)腔體內(nèi);b.在反應(yīng)腔體內(nèi)停止通入硅烷,使用等離子微波源對(duì)氮化硅進(jìn)行轟擊。所述等離子微波源的功率為6400w,轟擊時(shí)間為240s。本發(fā)明中在氮化硅沉積后進(jìn)行等離子轟擊,并不會(huì)影響電池的抗PID性能,并且在管式PECVD和板式PECVD機(jī)臺(tái)中得到的效果幾乎相同,對(duì)PERC電池效率均有有0.05%以上的提升。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光伏技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種提高氮化硅鈍化性能的方法。
背景技術(shù)
氮化硅是半導(dǎo)體和光伏行業(yè)廣泛使用,歷史悠久的一種表面鈍化材料。例如在PERC電池的生產(chǎn)中,PERC電池的生產(chǎn)流程包括:沉積背面鈍化層,然后開(kāi)口以形成背面接觸,這是比常規(guī)光伏電池生產(chǎn)流程多出來(lái)的兩個(gè)重要步驟。硅片內(nèi)部和硅片表面的雜質(zhì)及缺陷會(huì)對(duì)光伏電池的性能造成負(fù)面影響,鈍化工序就是通過(guò)降低表面載流子的復(fù)合來(lái)減小缺陷帶來(lái)的影響,從而保證電池的效率,因此對(duì)氮化硅鈍化性能改善方案的研究一直都沒(méi)有停止過(guò)。但是現(xiàn)有的技術(shù)手段都是通過(guò)調(diào)整氮化硅的沉積條件對(duì)氮化硅的鈍化性能進(jìn)行優(yōu)化。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種提高氮化硅鈍化性能的方法,提高氮化硅的鈍化性能。
本發(fā)明的技術(shù)方案為:一種提高氮化硅鈍化性能的方法,包括以下步驟:
a.在氮化硅沉積完成以后,太陽(yáng)電池半成品繼續(xù)留在反應(yīng)腔體內(nèi);
b.在反應(yīng)腔體內(nèi)停止通入硅烷,使用等離子微波源對(duì)氮化硅進(jìn)行轟擊。
本發(fā)明中對(duì)于太陽(yáng)電池半成品(例如PERC電池),若在氮化硅沉積前進(jìn)行等離子轟擊可以提升表面鈍化性能,但是同時(shí)會(huì)破壞表面的氧化層,導(dǎo)致PID失效;但是本發(fā)明通過(guò)大量實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn),在氮化硅沉積后進(jìn)行等離子轟擊,并不會(huì)影響電池的抗PID性能。
本發(fā)明中對(duì)于多層氮化硅結(jié)構(gòu),可以在第一層氮化硅沉積完以后就進(jìn)行等離子轟擊處理,也可以在任意一層氮化硅沉積完成以后進(jìn)行等離子轟擊處理,作為優(yōu)選,在第一層氮化硅沉積完成后進(jìn)行等離子轟擊處理。此種處理效果最好。
等離子微波源的功率、頻率以及轟擊時(shí)間是相互關(guān)聯(lián)的,在一定頻率下,等離子微波源功率越大,所需的轟擊時(shí)間越短。在一定的等離子微波源頻率和功率下,存在最佳的轟擊時(shí)間,時(shí)間太長(zhǎng)和太短都會(huì)影響效果。作為優(yōu)選,所述等離子微波源的功率為100~9000w,轟擊時(shí)間為20~500s。
作為進(jìn)一步優(yōu)選,所述等離子微波源的功率為6400w,轟擊時(shí)間為240s。
反應(yīng)腔體內(nèi)的溫度內(nèi)的溫度對(duì)于等離子微波源的轟擊效果也有著很重要的影響,作為優(yōu)選,所述反應(yīng)腔體內(nèi)的溫度為450~600℃。
作為進(jìn)一步優(yōu)選,所述反應(yīng)腔體內(nèi)的溫度為500℃。
作為優(yōu)選,所述步驟b中,反應(yīng)腔體內(nèi)停止通入硅烷,通入氮?dú)饣蛘咴谡婵障拢褂玫入x子微波源對(duì)氮化硅進(jìn)行轟擊。
本發(fā)明中可以用氮?dú)廨o助或者在真空下采用等離子微波源進(jìn)行轟擊,但是效果沒(méi)有氨氣輔助條件下好,作為優(yōu)選,所述步驟b中,反應(yīng)腔體內(nèi)停止通入硅烷,通入氨氣,使用等離子微波源對(duì)氮化硅進(jìn)行轟擊。
作為優(yōu)選,所述氨氣的流量為500~9000sccm。
作為進(jìn)一步優(yōu)選,所述氨氣的流量為5000sccm。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果體現(xiàn)在:
本發(fā)明中在氮化硅沉積后進(jìn)行等離子轟擊,并不會(huì)影響電池的抗PID性能,并且在管式PECVD和板式PECVD機(jī)臺(tái)中得到的效果幾乎相同,對(duì)PERC電池效率均有0.05%以上的提升。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例1
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





