[發明專利]一種針對OLED屏的MURA檢測方法

有效

• 申請號: 201910449056.8
• 申請日: 2019-05-28
• 公開（公告）號: CN110148131B
• 公開（公告）日: 2023-04-25
• 發明（設計）人: 董波;李堃;王道寧;廖志梁;陶亮;張亞東
• 申請（專利權）人: 易誠高科（大連）科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 大連優路智權專利代理事務所(普通合伙) 21249
• 代理人: 宋春昕;劉國萃

1.一種針對OLED屏的MURA檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1、參數與人眼敏感性的關聯性評估，包括以下步驟：

步驟1-1、仿真數據包含參量規定：一幅包含非均勻性的圖像產生以下參量：MURA類型k，k∈{1,2,3}，1表示是點類型，2表示線類型，3表示塊類型；MURA大小h、w，灰度差Δ，稠密度ρ，線性分布角度ω，整體產生過程是：

步驟1-1-1、對產生的隨機對象做規定：稠密度：圖像中非均勻性單一類型區域間的中心平均距離，稠密度越高圖像中的非均勻區域彼此間越接近；位置：非均勻性區域在圖像的行、列分布位置；大小：非均勻性區域的外包矩形寬、高；

步驟1-1-2、產生沒有MURA的灰度圖，其每個位置處的圖像灰度值都相同；

步驟1-1-3、對仿真產生非均勻性區域，做隨機選擇，根據稠密度選擇彼此間沒有覆蓋的區域做MURA區域仿真的候選區域；

步驟1-1-4、候選區域外包矩形的大小在設定大小的前提下做小范圍的隨機調整，然后在區域內部將不同類型的MURA疊加到均勻的圖像中，并記錄產生該MURA的類型，實際大小與灰度差等參量；

步驟1-2、采用固定變量法，產生出多組含有MURA的圖像用于做人工主觀判定；

步驟1-3、對于給定的圖像與理想顯示設備，人為對是否存在MURA做判定，并記錄判定的時間，當認定為存在MURA時，判定的時間越長認為MURA越不明顯；

步驟1-4、構建每個變量多少與檢測時間的函數關系，以此作為檢測MURA的判定依據；

步驟2、MURA檢測階段：MURA在檢測過程中需要JND做輔助量化計算，一幅待檢測的亮度捕捉圖有對應的JND矩陣，即JND^*，整體上，假設成像設備拍攝的測試圖像為I，自動計算JND^*的序列模型參考為：

步驟2-1、對捕獲的圖像數據做一次低通濾波，w₁通過評估圖像噪聲水平的方式給出；步驟2-2、對濾波后的圖像做灰度分層，依據分層的像素，按照空間相對位置與連接情況做標記；

L代表每個灰度層連接的灰度區域描述；

步驟2-3、基于同屬性的圖層做鄰域閉包計算，得到每個圖層的鄰域屬性標簽B，屬性包括面積、外接矩形與最小外接矩形、以及相對應的MURA類型；

步驟2-4、基于不同鄰域、不同圖層之間的邊界、中心距離、面積比來得到所有鄰域的整體面積比α，同屬性鄰域的空間分布密集描述不同屬性鄰域的空間分布密度描述

步驟2-5、依據每種類型的MURA屬性與人眼觀察的敏感度，計算出每個區域的JND^*；

步驟3、基于JND結果進行DeMURA：在JND^*已知的情況下，進行DeMURA迭代調整：

步驟3-1、利用得到的JND^*來計算調整權重；

步驟3-2、根據調整權重，調整DeMURA獲得的調整參數：

步驟3-3、進行一次MURA檢測，判斷是否比調整前更小，若不是，進入步驟3-4；若是：

步驟3-3-1、若MURA檢測值小于判定門限，存在MURA人眼不可觀測，則認為調整完畢，完成DeMURA；

步驟3-3-2、若MURA檢測值大于判定門限，則用新獲得的JND^*與調整參數重復進行DeMURA的3-1～3-3；

步驟3-4、將本次調整區域中呈現出更小JND^*的區域調整參數保留，舍棄變大的調整參數，然后重復進行DeMURA的3-1～3-3。

2.根據權利要求1所述的一種針對OLED屏的MURA檢測方法，其特征在于：所述步驟2中，還包括：

步驟2-6、對JND^*做一次w₂的低通濾波或者中值濾波，消除孤立點狀MURA的影響；

步驟2-7、對于不同種類的JND^*，做一次基于人眼敏感度的加權和，使JND^*壓縮為單值的MURA檢測值，該值即為用來量化檢測MURA的主要依據。