[發明專利]電路裝置、電子設備和移動體有效
| 申請號： | 201910446058.1 | 申請日： | 2019-05-27 |
| 公開（公告）號： | CN110543379B | 公開（公告）日： | 2023-06-27 |
| 發明（設計）人： | 三浦昌彥;日和佐悠一;小林弘典 | 申請（專利權）人： | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號： | G06F11/10 | 分類號： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人： | 李慶澤;鄧毅 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電路 裝置 電子設備 移動 | ||
1.一種電路裝置，其特征在于，其包含：
寄存器；
訪問控制電路，其進行針對非易失性存儲器的訪問控制，將所述非易失性存儲器所存儲的電路裝置的設定數據加載到所述寄存器中；以及
錯誤檢測電路，
所述訪問控制電路進行將所述非易失性存儲器所存儲的所述設定數據重新加載到所述寄存器中的刷新動作，
所述錯誤檢測電路從所述寄存器讀出重新加載到所述寄存器的比較用數據，對所讀出的所述比較用數據與所述比較用數據的期望值進行比較，根據比較結果進行所述訪問控制的錯誤檢測，
所述比較用數據是與對所述非易失性存儲器寫入所述設定數據的寫入次數對應地設定為不同的值的數據。
2.一種電路裝置，其特征在于，其包含：
寄存器；
訪問控制電路，其進行針對非易失性存儲器的訪問控制，將所述非易失性存儲器所存儲的電路裝置的設定數據加載到所述寄存器中；以及
錯誤檢測電路，
所述訪問控制電路進行將所述非易失性存儲器所存儲的所述設定數據重新加載到所述寄存器中的刷新動作，
所述錯誤檢測電路從所述寄存器讀出重新加載到所述寄存器的比較用數據，對所讀出的所述比較用數據與所述比較用數據的期望值進行比較，根據比較結果進行所述訪問控制的錯誤檢測，
所述非易失性存儲器存儲第1比較用數據作為所述比較用數據，存儲第1設定數據～第k設定數據作為所述設定數據，k為2以上的整數，
所述訪問控制電路在所述刷新動作中，將所述第1比較用數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，在重新加載所述第1比較用數據之后，將所述第1設定數據～所述第k設定數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，
所述錯誤檢測電路對重新加載到所述寄存器中的所述第1比較用數據與所述第1比較用數據的期望值進行比較。
3.根據權利要求2所述的電路裝置，其特征在于，
所述非易失性存儲器存儲第2比較用數據，
所述訪問控制電路在所述刷新動作中，在重新加載所述第1設定數據～所述第k設定數據之后，將所述第2比較用數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，
所述錯誤檢測電路對重新加載到所述寄存器中的所述第2比較用數據與所述第2比較用數據的期望值進行比較。
4.一種電路裝置，其特征在于，其包含：
寄存器；
訪問控制電路，其進行針對非易失性存儲器的訪問控制，將所述非易失性存儲器所存儲的電路裝置的設定數據加載到所述寄存器中；以及
錯誤檢測電路，
所述訪問控制電路進行將所述非易失性存儲器所存儲的所述設定數據重新加載到所述寄存器中的刷新動作，
所述錯誤檢測電路從所述寄存器讀出重新加載到所述寄存器的比較用數據，對所讀出的所述比較用數據與所述比較用數據的期望值進行比較，根據比較結果進行所述訪問控制的錯誤檢測，
所述非易失性存儲器存儲第1數據以及值與所述第1數據不同的第2數據作為所述比較用數據，
所述訪問控制電路在作為所述刷新動作的第1刷新動作中，將所述第1數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，在所述第1刷新動作之后的第2刷新動作中，將所述第2數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，
在將所述第1數據重新加載到所述寄存器中時，所述錯誤檢測電路對所述第1數據與所述第1數據的期望值進行比較，
在將所述第2數據重新加載到所述寄存器中時，所述錯誤檢測電路對所述第2數據與所述第2數據的期望值進行比較。
5.根據權利要求1～4中的任意一項所述的電路裝置，其特征在于，
在檢測出所述訪問控制的錯誤時，所述訪問控制電路停止所述刷新動作。
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