[發明專利]電路裝置、電子設備和移動體

有效

• 申請號: 201910446058.1
• 申請日: 2019-05-27
• 公開（公告）號: CN110543379B
• 公開（公告）日: 2023-06-27
• 發明（設計）人: 三浦昌彥;日和佐悠一;小林弘典
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李慶澤;鄧毅

電路裝置、電子設備和移動體。能夠防止由于刷新動作的異常引起的電路裝置的錯誤動作等。電路裝置(10)包含：寄存器(30)；訪問控制電路(20)，其進行針對非易失性存儲器(70)的訪問控制，將非易失性存儲器(70)所存儲的電路裝置(10)的設定數據加載到寄存器(30)中；以及錯誤檢測電路(40)。訪問控制電路(20)進行將非易失性存儲器70所存儲的設定數據重新加載到寄存器(30)中的刷新動作。錯誤檢測電路(40)從寄存器(30)讀出重新加載到寄存器(30)的比較用數據，對所讀出的比較用數據與比較用數據的期望值進行比較，根據比較結果進行訪問控制的錯誤檢測。

技術領域

本發明涉及電路裝置、電子設備和移動體等。

背景技術

作為進行異常檢測的電路裝置的現有技術，例如，存在專利文獻1所公開的技術。在專利文獻1的電路裝置中，檢測異常的檢測電路具有：基準保持電路，其保持基準數據；等效保持電路，其保持與基準數據實質上相等的等效數據；以及比較電路，其對基準數據與等效數據進行比較。而且，檢測電路根據比較電路的比較結果，生成表示基準數據是否異常的檢測信號。具體而言，在專利文獻1的電路裝置中，將從外部的處理裝置經由系統接口電路輸入的基準數據保持到基準保持電路中，對該基準數據與等效數據進行比較，由此，進行異常檢測。

專利文獻1：日本特開2010-127829號公報

在這樣的電路裝置中，進行將外部的非易失性存儲器所存儲的數據寫入寄存器中的刷新動作。該刷新動作由進行針對非易失性存儲器的訪問控制的訪問控制電路實現。但是，當非易失性存儲器、訪問控制電路發生故障、或者進行訪問控制的信號線產生斷線等連接不良時，無法正常地執行刷新動作，導致電路裝置的錯誤動作等。

發明內容

本發明的一個方式涉及電路裝置，其包含：寄存器；訪問控制電路，其進行針對非易失性存儲器的訪問控制，將所述非易失性存儲器所存儲的電路裝置的設定數據加載到所述寄存器中；以及錯誤檢測電路，所述訪問控制電路進行將所述非易失性存儲器所存儲的所述設定數據重新加載到所述寄存器中的刷新動作，所述錯誤檢測電路從所述寄存器讀出重新加載到所述寄存器的比較用數據，對所讀出的所述比較用數據與所述比較用數據的期望值進行比較，根據比較結果進行所述訪問控制的錯誤檢測。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，在檢測出所述訪問控制的錯誤時，所述訪問控制電路停止所述刷新動作。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述電路裝置包含：接口電路，其輸入外部器件輸出的外部器件設定數據；以及選擇器，其選擇所述訪問控制電路從所述非易失性存儲器讀出的所述設定數據和輸入到所述接口電路的所述外部器件設定數據中的任意一個，輸出到所述寄存器，在檢測出所述訪問控制的錯誤時，所述選擇器選擇輸入到所述接口電路的所述外部器件設定數據。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述電路裝置包含錯誤輸出端子，該錯誤輸出端子將錯誤檢測信號輸出到所述外部器件，所述寄存器存儲錯誤狀態信息，所述接口電路將所述錯誤狀態信息輸出到所述外部器件。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述比較用數據是與對所述非易失性存儲器寫入所述設定數據的寫入次數對應地設定為不同的值的數據。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述錯誤檢測電路在判定為所述比較用數據和所述比較用數據的期望值多次不一致的情況下，判斷為產生了所述訪問控制的錯誤。

此外，在本發明的一個方式中，也可以是，所述非易失性存儲器存儲第1比較用數據作為所述比較用數據，存儲第1設定數據～第k設定數據作為所述設定數據，k為2以上的整數，所述訪問控制電路在所述刷新動作中，將所述第1比較用數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，在重新加載所述第1比較用數據之后，將所述第1設定數據～所述第k設定數據從所述非易失性存儲器重新加載到所述寄存器中，所述錯誤檢測電路對重新加載到所述寄存器中的所述第1比較用數據與所述第1比較用數據的期望值進行比較。