[發(fā)明專利]用于包括TDMA的物體檢測的相位校正

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910432108.0
• 申請日: 2019-05-23
• 公開（公告）號: CN110531349B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設計）人: B·約坎諾維奇;L·雷
• 申請（專利權）人: 德爾福技術有限公司
• 主分類號: G01S13/36
• 分類號: G01S13/36;G01S13/66;G01S7/40;G01S7/42
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 錢慰民

1.一種物體檢測系統(tǒng)(20)，包括：

多個第一發(fā)射器(24)，所述多個第一發(fā)射器(24)在第一時刻分別發(fā)射第一雷達信號；

多個第二發(fā)射器(26)，所述多個第二發(fā)射器(26)在第二時刻分別發(fā)射第二雷達信號；

多個接收器(28)，所述多個接收器(28)接收所述第一雷達信號和所述第二雷達信號從物體反射后的雷達信號；以及

處理器(30)，所述處理器(30)被配置成通過以下方式判斷所述第一雷達信號與所述第二雷達信號之間是否存在發(fā)射定時相移：

確定所述第一雷達信號的參考協(xié)方差矩陣；

確定未修正的協(xié)方差矩陣，其中所述未修正的協(xié)方差矩陣包括所述第一雷達信號中的至少一部分以及所述第二雷達信號中的至少一部分；

對所述第二雷達信號中的所述至少一部分乘以-1來確定一組經修正的第二信號值；

確定經修正的協(xié)方差矩陣，其中所述經修正的協(xié)方差矩陣包括所述第一雷達信號中的所述至少一部分以及所述一組經修正的第二信號值；以及

基于(i)所述參考協(xié)方差矩陣的跡與所述未修正的協(xié)方差矩陣的跡之間的第一關系以及(ii)所述參考協(xié)方差矩陣的跡與所述經修正的協(xié)方差矩陣的跡之間的第二關系，來確定是否存在所述發(fā)射定時相移。

2.如權利要求1所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，所述處理器(30)被配置用于：

確定所述參考協(xié)方差矩陣的參考跡T；

確定所述未修正的協(xié)方差矩陣的跡Tu；

確定所述經修正的協(xié)方差矩陣的跡Tm；

基于所述參考跡T與所述跡Tu之間的關系來確定所述參考協(xié)方差矩陣的跡與所述未修正的協(xié)方差矩陣的跡之間的所述第一關系；以及

基于所述參考跡T與所述跡Tm之間的關系來確定所述參考協(xié)方差矩陣的跡與所述經修正的協(xié)方差矩陣的跡之間的所述第二關系。

3.如權利要求2所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，所述處理器(30)被配置用于：

判斷所述參考跡T是與所述跡Tu還是與所述跡Tm更相似；以及

基于所述跡Tu或Tm中的哪個更相似于所述參考跡T來判斷是否存在所述發(fā)射定時相移。

4.如權利要求3所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，所述處理器(30)被配置用于：

當所述參考跡T更相似于所述跡Tm而不是所述跡Tu時，判定存在所述發(fā)射定時相移；以及

當所述參考跡T更相似于所述跡Tu而不是所述跡Tm時，判定不存在所述發(fā)射定時相移。

5.如權利要求4所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，所述處理器(30)被配置成：當存在所述發(fā)射定時相移時，使用180°的相移值來處理所述接收到的雷達信號中的至少一些。

6.如權利要求1所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，

存在四個第一發(fā)射器(24)；

存在四個第二發(fā)射器(26)；

存在三十二個接收器(28)；

在所述參考協(xié)方差矩陣中存在一百二十八個第一雷達信號；

在所述第一雷達信號中的所述至少一部分中存在六十四個第一雷達信號；以及

在所述第二雷達信號中的所述至少一部分中存在六十四個第二雷達信號。

7.如權利要求1所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，

所述矩陣包括協(xié)方差矩陣，其中所述協(xié)方差矩陣包括所述接收到的雷達信號中的至少一些；

所述處理器(30)被配置成確定所述協(xié)方差矩陣的跡；并且

所述矩陣之間的關系包括所述協(xié)方差矩陣的所述跡之間的關系。

8.如權利要求7所述的物體檢測系統(tǒng)(20)，其特征在于，所述處理器(30)被配置成：當存在所述發(fā)射定時相移時，使用180°的相移值來處理所述接收到的雷達信號中的至少一些。