[發明專利]一種檢測外觀缺陷的方法及裝置

在審

• 申請號: 201910431942.8
• 申請日: 2019-05-23
• 公開（公告）號: CN110142230A
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 朱文齋;吳雨培;孔祥燕;夏輝;黃耀
• 申請（專利權）人: 北京阿丘機器人科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐彥圣

本申請提供了一種檢測外觀缺陷的方法及裝置，包括：按照預設的視圖拍攝策略，獲取待檢測物體的各平面視圖圖像；依據獲取的平面視圖圖像，查詢視圖與缺陷檢測模型的映射關系，得到所述獲取的平面視圖圖像映射的視圖缺陷檢測模型；將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測模型，獲取所述待檢測物體的外觀缺陷檢測結果。可以提升外觀缺陷的檢測效率。

技術領域

本申請涉及檢測技術領域，具體而言，涉及一種檢測外觀缺陷的方法及裝置。

背景技術

物體中包含的不規則外觀缺陷檢測一直是缺陷檢測技術中的難點。例如，對于通用串行總線(USB，Universal Serial Bus)Type-C接口，隨著2014年標準規范的制定，Type-C接口呈現了突飛猛進的發展勢頭，廣泛應用在智能手機、平板、筆記本電腦、可穿戴設備、數字電視、機頂盒、運動相機、游戲機、虛擬現實/增強現實(VR/AR，Virtual Reality/Augmented Reality)等各行業領域，形成了一套完整的產業鏈和生態鏈。

在Type-C接口的自動化生產過程中，由于環境因素和工藝因素的影響，會產生大量不規則外觀缺陷，目前，針對該不規則外觀缺陷，一般采用自動光學檢測(AOI，AutomatedOptical Inspection)技術，對Type-C接口的外觀缺陷進行檢測。具體地，通過布設在固定區域的相機進行拍攝，獲取接口外觀的平面圖像，提取平面圖像中包含的特征區域的參數值，例如，特征區域面積、特征區域的像素尺寸、像素面積、特征區域對比度等，與預先設置的參數閾值進行比較，若提取的參數值小于參數閾值，則確定該接口外觀存在缺陷。但該檢測外觀缺陷的方法，對于不規則外觀缺陷的可量化檢測指標(面積、尺寸、對比度)小于參數閾值的情形，將確認為合格產品，因而，通過該AOI方法，會造成漏檢，使得缺陷檢測效率較低。進一步地，由于拍攝獲取的平面圖像也不能有效包含不規則的接口外觀信息，例如，不規則接口外觀的遮擋，進一步造成缺陷的漏檢，降低了缺陷檢測效率。

發明內容

有鑒于此，本申請的目的在于提供一種檢測外觀缺陷的方法及裝置，提升外觀缺陷的檢測效率。

第一方面，本申請實施例提供了一種檢測外觀缺陷的方法，包括：

按照預設的視圖拍攝策略，獲取待檢測物體的各平面視圖圖像；

依據獲取的平面視圖圖像，查詢視圖與缺陷檢測模型的映射關系，得到所述獲取的平面視圖圖像映射的視圖缺陷檢測模型；

將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測模型，獲取所述待檢測物體的外觀缺陷檢測結果。

可選地，所述按照預設的視圖拍攝策略，獲取待檢測物體的各平面視圖圖像，包括：

在所述待檢測物體從上料至下料的生產過程中，按照預設的視圖拍攝策略，分別在各預設位置分別設置用于對所述待檢測物體進行拍攝的工站組；

確定所述待檢測物體從上料至下料的生產過程中的放置位置。

可選地，所述分別在各預設位置分別設置用于對所述待檢測物體進行拍攝的工站組，包括：

沿上料至下料的方向，在第一預設位置，設置用于對所述待檢測物體進行主視圖拍攝的第一工站組，在第二預設位置，設置用于對所述待檢測物體進行仰視圖和俯視圖拍攝的第二工站組，在第三預設位置，設置用于對所述待檢測物體進行左視圖和右視圖拍攝的第三工站組，在第四預設位置，設置用于對所述待檢測物體進行后視圖拍攝的第四工站組。

可選地，所述依據獲取的平面視圖圖像，查詢視圖與缺陷檢測模型的映射關系，得到所述獲取的平面視圖圖像映射的視圖缺陷檢測模型，包括：

接收在所述預設位置設置的工站組拍攝的平面視圖圖像，依據所述預設位置設置的工站組確定所述平面視圖圖像對應的視圖類型；