[發(fā)明專利]一種檢測(cè)外觀缺陷的方法及裝置

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910431942.8
• 申請(qǐng)日: 2019-05-23
• 公開（公告）號(hào): CN110142230A
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱文齋;吳雨培;孔祥燕;夏輝;黃耀
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京阿丘機(jī)器人科技有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/342
• 分類號(hào): B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐彥圣

1.一種檢測(cè)外觀缺陷的方法，其特征在于，包括：

按照預(yù)設(shè)的視圖拍攝策略，獲取待檢測(cè)物體的各平面視圖圖像；

依據(jù)獲取的平面視圖圖像，查詢視圖與缺陷檢測(cè)模型的映射關(guān)系，得到所述獲取的平面視圖圖像映射的視圖缺陷檢測(cè)模型；

將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測(cè)模型，獲取所述待檢測(cè)物體的外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照預(yù)設(shè)的視圖拍攝策略，獲取待檢測(cè)物體的各平面視圖圖像，包括：

在所述待檢測(cè)物體從上料至下料的生產(chǎn)過程中，按照預(yù)設(shè)的視圖拍攝策略，分別在各預(yù)設(shè)位置分別設(shè)置用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行拍攝的工站組；

確定所述待檢測(cè)物體從上料至下料的生產(chǎn)過程中的放置位置。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述分別在各預(yù)設(shè)位置分別設(shè)置用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行拍攝的工站組，包括：

沿上料至下料的方向，在第一預(yù)設(shè)位置，設(shè)置用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行主視圖拍攝的第一工站組，在第二預(yù)設(shè)位置，設(shè)置用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行仰視圖和俯視圖拍攝的第二工站組，在第三預(yù)設(shè)位置，設(shè)置用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行左視圖和右視圖拍攝的第三工站組，在第四預(yù)設(shè)位置，設(shè)置用于對(duì)所述待檢測(cè)物體進(jìn)行后視圖拍攝的第四工站組。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述依據(jù)獲取的平面視圖圖像，查詢視圖與缺陷檢測(cè)模型的映射關(guān)系，得到所述獲取的平面視圖圖像映射的視圖缺陷檢測(cè)模型，包括：

接收在所述預(yù)設(shè)位置設(shè)置的工站組拍攝的平面視圖圖像，依據(jù)所述預(yù)設(shè)位置設(shè)置的工站組確定所述平面視圖圖像對(duì)應(yīng)的視圖類型；

查詢所述映射關(guān)系，獲取所述視圖類型映射的視圖缺陷檢測(cè)模型。

5.如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果包括：有缺陷以及無缺陷，將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測(cè)模型，獲取所述待檢測(cè)物體的外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果，包括：

將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測(cè)模型，獲取所述平面視圖圖像的缺陷檢測(cè)結(jié)果；

若所述缺陷檢測(cè)結(jié)果表明無缺陷，標(biāo)記所述平面視圖圖像對(duì)應(yīng)的視圖類型；

判斷標(biāo)記的視圖類型是否包含所述視圖拍攝策略中的所有視圖類型，若是，確定所述待檢測(cè)物體無外觀缺陷，若否，執(zhí)行所述獲取待檢測(cè)物體的各平面視圖圖像的步驟；

若所述缺陷檢測(cè)結(jié)果表明有缺陷，確定所述待檢測(cè)物體有外觀缺陷。

6.如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果包括：缺陷名或無缺陷，將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測(cè)模型，獲取所述待檢測(cè)物體的外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果，包括：

將所述獲取的平面視圖圖像輸入所述視圖缺陷檢測(cè)模型，獲取所述平面視圖圖像的缺陷檢測(cè)結(jié)果；

標(biāo)記所述平面視圖圖像對(duì)應(yīng)的視圖類型；

判斷標(biāo)記的視圖類型是否包含所述視圖拍攝策略中的所有視圖類型，若是，統(tǒng)計(jì)各平面視圖圖像的缺陷檢測(cè)結(jié)果，依據(jù)統(tǒng)計(jì)的缺陷檢測(cè)結(jié)果，確定所述待檢測(cè)物體無外觀缺陷或具有的缺陷名，若否，執(zhí)行所述獲取待檢測(cè)物體的各平面視圖圖像的步驟。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述依據(jù)統(tǒng)計(jì)的缺陷檢測(cè)結(jié)果，確定所述待檢測(cè)物體無外觀缺陷或具有的缺陷名，包括：

若所有的缺陷檢測(cè)結(jié)果均表明無缺陷，確定所述待檢測(cè)物體無外觀缺陷，否則，對(duì)各缺陷檢測(cè)結(jié)果中的缺陷名進(jìn)行整合，輸出所述待檢測(cè)物體的整合缺陷檢測(cè)結(jié)果。

8.如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

若所述待檢測(cè)物體的外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果表明無缺陷，控制將所述待檢測(cè)物體置于正常料盤，若所述待檢測(cè)物體的外觀缺陷檢測(cè)結(jié)果表明有缺陷，控制將所述待檢測(cè)物體置于缺陷料盤。