[發明專利]一種低功耗邊界掃描測試方法

有效

• 申請號: 201910431231.0
• 申請日: 2019-05-22
• 公開（公告）號: CN110007217B
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 鄧立寶;付寧;喬立巖;孫寧;彭喜元
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學(威海)
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 高倩

1.一種低功耗邊界掃描測試方法，其特征在于，SOC上的每個芯片的輸出端接入BSLC邊界掃描發射單元，n個BSLC邊界掃描發射單元中相鄰兩邊界掃描單元的測試數據輸入端SI和測試數據輸出端SO依次相連，串聯構成輸入邊界掃描鏈，用于向功能路徑發送測試激勵；每個芯片的輸入端接入BSCC邊界掃描捕獲單元，m個BSCC邊界掃描捕獲單元中相鄰兩邊界掃描單元的測試數據輸入端SI和測試數據輸出端SO依次相連，串聯構成輸出邊界掃描鏈，用于捕獲和移出測試響應；

輸入邊界掃描鏈和輸出邊界掃描鏈并行掃描移位工作，掃描測試包括非延遲測試模式和延遲測試模式兩種模式，非延遲測試模式時掃描單元的Delay_enable信號為1，延時模式時掃描單元的Delay_enable信號為0；

在非延遲測試模式時，輸入邊界掃描鏈向功能路徑發送測試激勵的過程為：

在移位階段，測試向量SI_LC按位依次移入輸入邊界掃描鏈，每個測試時鐘周期內，所述輸入邊界掃描鏈中只有一個BSLC邊界掃描發射單元的時鐘可以被觸發，從而接收測試向量，n個BSLC邊界掃描發射單元從第1個至第n個依次完成測試向量接收，其他已完成移位操作的BSLC邊界掃描發射單元均處于旁路模式，未完成移位操作的BSLC邊界掃描發射單元中的觸發器不能被觸發；

直到測試移位操作完成后進入更新階段，輸入邊界掃描鏈中的測試向量通過BSLC邊界掃描發射單元的PO端發射到功能路徑上，完成向功能路徑發送測試激勵的操作；

在非延遲測試模式時，輸出邊界掃描鏈捕獲和移出測試響應的過程為：

在捕獲階段，BSCC邊界掃描捕獲單元從PI端捕獲來自功能路徑的上一測試過程的響應；

然后進入移位階段，測試響應SO_CC按位依次串行移出輸出邊界掃描鏈，每個測試時鐘周期內所述輸出邊界掃描鏈中只有一個BSCC邊界掃描捕獲單元發生狀態改變，m個BSCC邊界掃描捕獲單元從第1個至第m個依次將測試響應SO_CC串行移出，在任一個BSCC邊界掃描捕獲單元完成移位操作后均進入旁路模式；根據移出的測試響應判斷SOC上各芯片之間互連線是否存在故障；

在延遲測試模式時，功能時鐘頻率是非延遲測試模式時的測試時鐘頻率的10～20倍，輸入邊界掃描鏈向功能路徑發送測試激勵的過程為：

輸入時鐘首先為測試時鐘，測試向量SI_LC按位依次移入輸入邊界掃描鏈；

完成移位后，Delay_enable信號由1變為0，輸入時鐘切換至功能時鐘；同時，測試向量通過BSLC邊界掃描發射單元PO端施加到功能路徑上，作為其初始邏輯值；

在功能時鐘第一個上升沿到來時，掃描鏈再進行一次移位，將這次移位造成的PO端的邏輯值轉換作為測試激勵發送到功能路徑上；

在延遲測試模式時，輸出邊界掃描鏈的捕獲和移出測試響應的過程為：

在功能時鐘第二個上升沿到來時，BSCC邊界掃描捕獲單元從PI端捕獲來自功能路徑的測試響應；

然后進入移位階段，測試響應SO_CC按位依次串行移出輸出邊界掃描鏈，每個測試時鐘周期內所述輸入邊界掃描鏈中只有一個BSCC邊界掃描捕獲單元發生狀態改變，m個BSCC邊界掃描捕獲單元從第1個至第m個依次將測試響應SO_CC串行移出，在任一個BSCC邊界掃描捕獲單元完成移位操作后均進入旁路模式。