[發明專利]激光巴條檢測裝置

在審

• 申請號: 201910422091.0
• 申請日: 2019-05-21
• 公開（公告）號: CN110018182A
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 文少劍;廖東升;劉猛
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/952
• 分類號: G01N21/952
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 熊文杰;明霖

本申請涉及一種激光巴條檢測裝置，包括光接收裝置、負極板、限位裝置、正極固定板和探針陣列。所述光接收裝置包括入射口。所述入射口用于接收所述激光巴條發出的光。所述限位裝置設置于所述負極板，用于限定所述激光巴條，使所述激光巴條的發光面與所述入射口相對設置。所述正極固定板可拆卸設置于所述負極板。所述探針陣列設置于所述正極固定板。所述探針陣列包括多個探針，所述多個探針用于與所述多個單管的正極一一對應接觸。所述限位裝置限制了所述激光巴條的放置位置，使所述激光巴條的發光面正對所述入射口，減少了所述激光巴條的位置調整時間，提高了檢測效率。

技術領域

本申請涉及檢測技術領域，特別是涉及一種激光巴條檢測裝置。

背景技術

半導體激光器及其陣列因其體積小、重量輕、效率高、成本低等優點已經在工業、醫療、通信、軍事等諸多領域獲得了廣泛的應用。激光巴條是激光器陣列的基本組成單元，既可以單獨應用，也可進一步組成線陣和疊陣。半導體激光器封裝有巴條封裝和單管封裝。激光巴條封裝由多個邊緣的激光單管并排封裝組成。

激光巴條的表面損傷和污物影響激光巴條的發光效率和使用壽命。激光巴條在出廠之前需要進行表面檢測，怎樣才能提高激光巴條的表面檢測效率是亟待解決的問題。

發明內容

基于此，有必要針對怎樣才能提高激光巴條的表面檢測效率的問題，提供一種激光巴條檢測裝置。

一種激光巴條檢測裝置，用于檢測激光巴條表面的光潔度。所述激光巴條包括第一表面、第二表面和第三表面，所述第一表面與所述第三表面相對設置，所述第二表面設置于所述第一表面和所述第三表面之間，且與所述第一表面和所述第三表面連接。所述激光巴條檢測裝置包括圖像采集裝置、控制裝置和位置調整裝置。

所述圖像采集裝置具有第一采集口、第二采集口和第三采集口。所述控制裝置與所述圖像采集裝置電連接，用于控制所述圖像采集裝置的所述第一采集口采集所述第一表面的第一圖像，根據所述第一圖像生成位置信息。

所述位置調整裝置與所述控制裝置電連接，所述位置調整裝置用于接收所述位置信息，并根據所述位置信息調整所述激光巴條的位置，以使所述第二采集口采集所述第二表面的第二圖像，所述第三采集口采集所述第三表面的第三圖像。所述控制裝置根據所述第一圖像、所述第二圖像和所述第三圖像判斷所述第一表面、所述第二表面和所述第三表面的光潔度是否合格。

在一個實施例中，所述位置調整裝置包括驅動裝置。所述驅動裝置與所述控制裝置電連接。所述控制裝置用于根據所述位置信息通過控制所述驅動裝置將所述激光巴條從第一工位移動到第二工位，以使所述第二采集口采集所述第二圖像，所述第三采集口采集所述第三圖像。

在一個實施例中，所述位置調整裝置還包括信號處理裝置。所述信號處理裝置電連接于所述控制裝置與所述驅動裝置之間。所述信號處理裝置用于接收所述位置信息，并將所述位置信息轉換為電流信號。所述驅動裝置根據所述電流信號將所述激光巴條從所述第一工位移動到所述第二工位。

在一個實施例中，所述激光巴條檢測裝置還包括吸附裝置。所述吸附裝置固定于所述驅動裝置。所述吸附裝置與所述控制裝置電連接，用于根據所述位置信息通過所述第一表面吸附所述激光巴條。

在一個實施例中，所述驅動裝置包括基座和驅動電機組。所述吸附裝置固定于所述基座。所述驅動電機組的輸出軸與所述基座固定連接。所述驅動電機組與所述信號處理裝置電連接。所述驅動電機組用于接收所述電流信號，并根據所述電流信號調節所述基座的位置。

在一個實施例中，所述激光巴條檢測裝置還包括工作臺和反射鏡。所述工作臺開設第一通孔，所述第二工位正對所述第一通孔的中心。所述反射鏡設置于所述工作臺背離所述第二工位的一側。所述反射鏡正對所述第一通孔，且與所述工作臺成°角。所述第三采集口通過反射鏡采集所述第三表面的所述第三圖像。