[發(fā)明專利]激光巴條檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910422091.0 | 申請日: | 2019-05-21 |
| 公開(公告)號: | CN110018182A | 公開(公告)日: | 2019-07-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 文少劍;廖東升;劉猛 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市杰普特光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/952 | 分類號: | G01N21/952 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 熊文杰;明霖 |
| 地址: | 518110 廣東省深圳市龍華區(qū)觀湖*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 激光巴條 入射口 正極固定板 探針陣列 限位裝置 負(fù)極板 光接收裝置 檢測裝置 發(fā)光面 探針 正極 可拆卸設(shè)置 放置位置 位置調(diào)整 相對設(shè)置 單管 正對 檢測 申請 | ||
1.一種激光巴條檢測裝置,用于檢測激光巴條(100)表面的光潔度,所述激光巴條(100)包括第一表面(101)、第二表面(102)和第三表面(103),所述第一表面(101)與所述第三表面(103)相對設(shè)置,所述第二表面(102)設(shè)置于所述第一表面(101)和所述第三表面(103)之間,且與所述第一表面(101)和所述第三表面(103)連接,其特征在于,所述激光巴條檢測裝置(200)包括:
圖像采集裝置(60),所述圖像采集裝置(60)具有第一采集口(611)、第二采集口(621)和第三采集口(631);
控制裝置(50),與所述圖像采集裝置(60)電連接,用于控制所述圖像采集裝置(60)的所述第一采集口(611)采集所述第一表面(101)的第一圖像,根據(jù)所述第一圖像生成位置信息;
位置調(diào)整裝置(70),與所述控制裝置(50)電連接,所述位置調(diào)整裝置(70)用于接收所述位置信息,并根據(jù)所述位置信息調(diào)整所述激光巴條(100)的位置,以使所述第二采集口(621)采集所述第二表面(102)的第二圖像,所述第三采集口(631)采集所述第三表面(103)的第三圖像,所述控制裝置(50)根據(jù)所述第一圖像、所述第二圖像和所述第三圖像判斷所述第一表面、所述第二表面和所述第三表面的光潔度是否合格。
2.如權(quán)利要求1所述的激光巴條檢測裝置,其特征在于,所述位置調(diào)整裝置(70)包括:
驅(qū)動裝置(710),與所述控制裝置(50)電連接,所述控制裝置(50)用于根據(jù)所述位置信息通過控制所述驅(qū)動裝置(710)將所述激光巴條(100)從第一工位(210)移動到第二工位(220),以使所述第二采集口(621)采集所述第二圖像,所述第三采集口(631)采集所述第三圖像。
3.如權(quán)利要求2所述的激光巴條檢測裝置,其特征在于,所述位置調(diào)整裝置(70)還包括:
信號處理裝置(720),電連接于所述控制裝置(50)與所述驅(qū)動裝置(710)之間,所述信號處理裝置(720)用于接收所述位置信息,并將所述位置信息轉(zhuǎn)換為電流信號,所述驅(qū)動裝置(710)根據(jù)所述電流信號將所述激光巴條(100)從所述第一工位(210)移動到所述第二工位(220)。
4.如權(quán)利要求3所述的激光巴條檢測裝置,其特征在于,所述激光巴條檢測裝置(200)還包括:
吸附裝置(80),所述吸附裝置(80)固定于所述驅(qū)動裝置(710),所述吸附裝置(80)與所述控制裝置(50)電連接,用于根據(jù)所述位置信息通過所述第一表面(101)吸附所述激光巴條(100)。
5.如權(quán)利要求4所述的激光巴條檢測裝置,其特征在于,所述驅(qū)動裝置(710)包括:
基座(711),所述吸附裝置(80)固定于所述基座(711);
驅(qū)動電機組(712),所述驅(qū)動電機組(712)的輸出軸與所述基座(711)固定連接,所述驅(qū)動電機組(712)與所述信號處理裝置(720)電連接,所述驅(qū)動電機組(712)用于接收所述電流信號,并根據(jù)所述電流信號調(diào)節(jié)所述基座(711)的位置。
6.如權(quán)利要求2所述的激光巴條檢測裝置,其特征在于,所述激光巴條檢測裝置(200)還包括:
工作臺(910),所述工作臺(910)開設(shè)第一通孔(911),所述第二工位(220)正對所述第一通孔(911)的中心;
反射鏡(920),設(shè)置于所述工作臺(910)背離所述第二工位(220)的一側(cè),所述反射鏡(920)正對所述第一通孔(911),且與所述工作臺(910)成45°角,所述第三采集口(631)通過反射鏡(920)采集所述第三表面(103)的所述第三圖像。
7.如權(quán)利要求6所述的激光巴條檢測裝置,其特征在于,所述工作臺(910)背離所述反射鏡(920)的表面挖設(shè)第一凹槽(912),所述第一采集口(611)正對所述第一凹槽(912)的開口,所述第一工位(210)設(shè)置于所述第一凹槽(912)的底面。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





