[發明專利]檢測用精準出光裝置和測量儀在審
| 申請號: | 201910412912.2 | 申請日: | 2019-05-17 |
| 公開(公告)號: | CN110057753A | 公開(公告)日: | 2019-07-26 |
| 發明(設計)人: | 薛文禮;崔忠偉 | 申請(專利權)人: | 北京領邦智能裝備股份公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京路勝元知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11669 | 代理人: | 路兆強;張亞彬 |
| 地址: | 100084 北京市海淀區永*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 出光裝置 菲涅爾透鏡 發光面 凸透鏡 焦平面 測量儀 發光 檢測 發射光線 分光鏡 種檢測 傾斜設置 有效尺寸 照明區域 焦距 平行 | ||
本發明公開了一種檢測用精準出光裝置和測量儀,檢測用精準出光裝置包括發光面和凸透鏡,發光面為具有邊界的發光面,發光面向凸透鏡發射光線;凸透鏡的焦距為A,發光面位于凸透鏡的焦平面或者位于與焦平面平行的X平面與Y平面之間,X平面和Y平面分別位于焦平面兩側,且均與焦平面之間距離小于等于A/5。本發明的測量儀包括上述檢測用精準出光裝置。本發明另一種檢測用精準出光裝置包括發光面、菲涅爾透鏡、分光鏡,菲涅爾透鏡的有效尺寸為40mm×40mm至125mm×125mm,發光面向菲涅爾透鏡發射光線,分光鏡設置于菲涅爾透鏡的遠離發光面的一邊,相對菲涅爾透鏡呈四十度至五十度角傾斜設置。本發明的檢測用精準出光裝置形成的照明區域照明一致性高。
技術領域
本發明總體而言涉及機器視覺領域,具體而言,涉及一種檢測用精準出光裝置和測量儀。
背景技術
目前,在工件檢測過程中,通常采用同軸光、環形光或是板光源等普通光源對工件進行照射,但這些光源的照明區一致性差,工件擺放在不同位置時所呈現的照明效果不同,當工件位于照明區域內的某些位置時,輕微缺陷例如劃痕不能被光源激勵為明顯成像,導致工件的某些表面缺陷的檢出不穩定,這就需要將工件放在照明區域內的特定位置、工件上的缺陷和光源處于特殊位置,才能使得缺陷得以輕微展現,但在自動化檢測流水線上,動態檢測過程無法確保滿足工件上的缺陷和光源之間的特殊位置要求,工件表面缺陷的檢出率低。
因此,業界亟需一種照明效果一致性好且低成本的檢測用精準出光裝置和測量儀。
發明內容
本發明的一個主要目的在于克服上述現有技術的至少一種缺陷,提供一種照明效果一致性好且低成本的檢測用精準出光裝置和測量儀。
為實現上述發明目的,本發明采用如下技術方案:
根據本發明的一個方面,提供了一種檢測用精準出光裝置,所述檢測用精準出光裝置包括發光面和凸透鏡,所述發光面為具有邊界的發光面,所述發光面向所述凸透鏡發射光線;所述凸透鏡的焦距為A,所述發光面位于所述凸透鏡的焦平面或者位于與所述焦平面平行的X平面與Y平面之間,所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側,且均與所述焦平面之間距離小于等于A/5。
根據本發明的一實施方式,所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側,且均與所述焦平面之間距離小于等于A/10。
根據本發明的一實施方式,所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側,且均與所述焦平面之間距離小于等于A/20。
根據本發明的一實施方式,所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側,且均與所述焦平面之間距離小于等于A/100。
根據本發明的一實施方式,所述凸透鏡的邊界口徑為D,T=A/D,且T在0.25至1.5之間。
根據本發明的一實施方式,所述D在30至120毫米之間。
根據本發明的一實施方式,
所述X平面與所述焦平面之間距離和所述Y平面與所述焦平面之間距離均小于等于5毫米;
并且,所述凸透鏡的邊界口徑為D,T=A/D且T在0.25至1.5之間;
并且,所述D在20至200毫米之間。
根據本發明的一實施方式,
所述X平面與所述焦平面之間距離和所述Y平面與所述焦平面之間距離均小于等于1毫米;
并且,所述凸透鏡的邊界口徑為D,T=A/D,且T在0.5至1.2之間;
并且,所述D在30至120毫米之間。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京領邦智能裝備股份公司,未經北京領邦智能裝備股份公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910412912.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





