[發(fā)明專利]檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置和測(cè)量?jī)x在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910412912.2 | 申請(qǐng)日： | 2019-05-17 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN110057753A | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-07-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 薛文禮;崔忠偉 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 北京領(lǐng)邦智能裝備股份公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/01 | 分類號(hào)： | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京路勝元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11669 | 代理人： | 路兆強(qiáng);張亞彬 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區(qū)永*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 出光裝置 菲涅爾透鏡 發(fā)光面 凸透鏡 焦平面 測(cè)量?jī)x 發(fā)光 檢測(cè) 發(fā)射光線 分光鏡 種檢測(cè) 傾斜設(shè)置 有效尺寸 照明區(qū)域 焦距 平行 | ||
1.一種檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置包括發(fā)光面和凸透鏡，所述發(fā)光面為具有邊界的發(fā)光面，所述發(fā)光面向所述凸透鏡發(fā)射光線；所述凸透鏡的焦距為A，所述發(fā)光面位于所述凸透鏡的焦平面或者位于與所述焦平面平行的X平面與Y平面之間，所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側(cè)，且均與所述焦平面之間距離小于等于A/5。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側(cè)，且均與所述焦平面之間距離小于等于A/10。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側(cè)，且均與所述焦平面之間距離小于等于A/20。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述X平面和所述Y平面分別位于所述焦平面兩側(cè)，且均與所述焦平面之間距離小于等于A/100。
5.如權(quán)利要求1-4任一所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述凸透鏡的邊界口徑為D，T＝A/D，且T在0.25至1.5之間。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述D在30至120毫米之間。
7.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，
所述X平面與所述焦平面之間距離和所述Y平面與所述焦平面之間距離均小于等于5毫米；
并且，所述凸透鏡的邊界口徑為D，T＝A/D且T在0.25至1.5之間；
并且，所述D在20至200毫米之間。
8.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，
所述X平面與所述焦平面之間距離和所述Y平面與所述焦平面之間距離均小于等于1毫米；
并且，所述凸透鏡的邊界口徑為D，T＝A/D，且T在0.5至1.2之間；
并且，所述D在30至120毫米之間。
9.如權(quán)利要求1-4和6-8任一所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置包括發(fā)光LED顆粒陣列和漫射板，所述發(fā)光LED顆粒陣列向所述漫射板上投射光線，所述漫射板的光線出射面形成所述發(fā)光面。
10.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置還包括光闌，所述發(fā)光LED顆粒陣列和所述光闌分別位于所述漫射板的兩側(cè)，所述光闌靠近所述凸透鏡的一面所界定的發(fā)光孔面為所述發(fā)光面。
11.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述漫射板上貼設(shè)有增亮膜或棱鏡膜。
12.如權(quán)利要求1-4,6-8所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置還包括分光鏡，所述分光鏡設(shè)置于所述凸透鏡的遠(yuǎn)離所述發(fā)光面的一邊，所述分光鏡將所述發(fā)光面發(fā)射來(lái)的光線，進(jìn)行部分反射，以投射到受光物表面，所述受光物表面的反射光透射過(guò)所述分光鏡。
13.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述分光鏡與所述凸透鏡的光軸之間夾角為45度。
14.如權(quán)利要求1-4和6-8任一所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述發(fā)光面邊界可調(diào)。
15.如權(quán)利要求1-4和6-8任一所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述凸透鏡為菲涅爾透鏡。
16.如權(quán)利要求1-4和6-8所述的檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置，其特征在于，所述檢測(cè)用精準(zhǔn)出光裝置用于對(duì)工件的金屬表面進(jìn)行照明。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
