[發明專利]一種基于關鍵點檢測的細胞計數方法在審
| 申請號: | 201910408091.5 | 申請日: | 2019-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN110136065A | 公開(公告)日: | 2019-08-16 |
| 發明(設計)人: | 高會軍;楊憲強;林偉陽;佟明斯;竹添 | 申請(專利權)人: | 林偉陽 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;G06T5/30;G06T7/194 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人: | 時起磊 |
| 地址: | 150090 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 灰度圖 細胞 計數區域 關鍵點檢測 二值化 二值化處理 圖像金字塔 右下角坐標 插值運算 頂帽變換 灰度圖像 檢測結果 角點檢測 矩形掩模 膨脹處理 細胞分析 旋轉校正 點坐標 結果圖 自適應 斜線 截取 縮放 核對 圖像 | ||
1.一種基于關鍵點檢測的細胞計數方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一、讀取包含待計數細胞區域的待測圖像,將圖像轉為灰度圖,利用圖像金字塔縮放技術對灰度圖進行插值運算,將灰度圖縮小為原來的大小,然后采用寬度ew1、高度eh1的矩形掩模核對縮小之后的灰度圖進行黑帽變換;
步驟二、對步驟一結果圖進行二值化與膨脹處理;
步驟三、檢測步驟二結果圖中的直線并計算直線角度;
步驟四、根據直線上兩點坐標計算斜線方程;
步驟五、在步驟二結果圖中確定細胞計數區域的左上角和右下角2個頂點坐標;
步驟六、旋轉校正原圖與步驟一中的灰度圖,步驟一中的灰度圖的寬度為w0,高度為h0;
步驟七、計算2個頂點坐標在校正圖像上對應的坐標值,并根據2個頂點坐標在步驟六結果圖上截取細胞計數區域;
步驟八、對步驟七中得到的細胞計數區域的灰度圖進行頂帽變換處理;
步驟九、對步驟八得到的灰度圖像進行自適應二值化處理;
步驟十、對步驟九得到的二值化圖進行角點檢測,統計細胞數量。
2.根據權利要求1所述的一種基于關鍵點檢測的細胞計數方法,其特征在于,步驟二所述對步驟一結果圖進行二值化與膨脹處理的過程如下:
利用OTSU對黑帽變換之后的圖像進行二值化,得到網格線的粗略二值化圖,使用寬度ew2、高度eh2的矩形掩模核膨脹該二值化圖像,用來加粗二值化后的網格線,隨后利用金字塔縮放技術進一步縮小膨脹結果圖為其自身的大小。
3.根據權利要求2所述的一種基于關鍵點檢測的細胞計數方法,其特征在于,步驟三所述的檢測步驟二結果圖中的直線并計算直線角度的過程如下:
采用累計概率霍夫變換檢測步驟二結果圖中的直線,根據直線兩點坐標(xi,yi),(xj,yj),計算得到直線角度θl,計算公式為θl=arctan((xi-xj)/(yi-yj))。
4.根據權利要求3所述的一種基于關鍵點檢測的細胞計數方法,其特征在于,步驟四所述的根據直線上兩點坐標計算斜線方程的過程如下:
根據直線兩點坐標(xi,yi),(xj,yj),計算直線斜率為根據該斜率與直線端點坐標(xi,yi),得到直線截距b=yi-k·xi,最終得到斜線方程。
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