[發(fā)明專(zhuān)利]基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910403950.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110045000A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊天麗;羅立力;劉雪梅;龍開(kāi)明 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N27/62 | 分類(lèi)號(hào): | G01N27/62 |
| 代理公司: | 中國(guó)工程物理研究院專(zhuān)利中心 51210 | 代理人: | 翟長(zhǎng)明;韓志英 |
| 地址: | 621999 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 大氣樣品 氙同位素 豐度 四極質(zhì)譜儀 進(jìn)樣 測(cè)量 同位素測(cè)量 測(cè)量系統(tǒng) 低溫環(huán)境 低溫吸附 監(jiān)控壓力 離子測(cè)量 吸附材料 稀有氣體 準(zhǔn)確定量 數(shù)據(jù)處理 等流程 壓力計(jì) 標(biāo)稱(chēng) 去除 回歸 引入 分析 | ||
1.基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,包括以下步驟:
a.進(jìn)樣
使用全金屬微漏閥嚴(yán)格控制待測(cè)大氣樣品進(jìn)樣速度,壓力計(jì)監(jiān)控壓力變化,將待測(cè)大氣樣品定量引入樣品室;
b.活性組分一級(jí)純化
將樣品室中的待測(cè)大氣樣品引入一級(jí)吸附材料活化爐,在高溫下吸附待測(cè)大氣樣品中的活性組分,得到較純的稀有氣體組分Ⅰ,被吸附的活性組分至少包括N2、O2、CO2、CO和CH4;
c. 活性組分二級(jí)純化
稀有氣體組分Ⅰ進(jìn)入二級(jí)吸附材料活化爐中,吸附剩余的活性組分,得到更為純凈的稀有氣體組分Ⅱ,稀有氣體組分Ⅰ中被吸附的活性組分至少包括N2、O2、CO2、CH4、CO以及大量的H2;
d. 低溫吸附
稀有氣體組分Ⅱ進(jìn)入低溫容器區(qū)域,經(jīng)過(guò)低溫冷凍后,容器內(nèi)表面附著非氣體狀態(tài)的物質(zhì)Ⅲ,物質(zhì)Ⅲ至少包括N2、CO2、CH4、H2、Ar、Kr和Xe;隨后,將低溫容器區(qū)域的氣態(tài)組分通過(guò)渦輪分子泵抽掉;
e. 升溫去氬
低溫容器區(qū)域升溫,直至附著在內(nèi)表面的非氣體狀態(tài)的物質(zhì)Ⅲ恢復(fù)到氣體狀態(tài),得到解析氣體Ⅳ;
f. 同位素測(cè)量
在四極質(zhì)譜儀操作軟件中選擇多離子探測(cè)功能,設(shè)置測(cè)量參數(shù),啟動(dòng)探測(cè)功能使四極質(zhì)譜儀處于測(cè)量狀態(tài);將解析氣體Ⅳ引入四極質(zhì)譜儀的腔室,獲得測(cè)量時(shí)間段內(nèi)各氙同位素的離子流強(qiáng)度,離子流強(qiáng)度單位為安培,用A表示;
g.數(shù)據(jù)處理
以解析氣體Ⅳ進(jìn)入四極質(zhì)譜儀腔室為測(cè)量0時(shí)刻,各氙同位素的離子流強(qiáng)度與時(shí)間的對(duì)應(yīng)曲線進(jìn)行數(shù)值擬合得到擬合曲線,擬合曲線的截距為0時(shí)刻各氙同位素的離子流強(qiáng)度,0時(shí)刻各氙同位素的離子流強(qiáng)度之比即為同位素豐度比。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟a中,針對(duì)60mL容積的樣品室,待測(cè)大氣樣品進(jìn)樣速度大于等于10mbar/min。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟b的一級(jí)吸附材料活化爐的吸附材料為海綿鈦或鋯釩鐵。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟b的一級(jí)吸附材料活化爐的吸附材料為海綿鈦時(shí),吸附溫度范圍為800℃~850℃,吸附時(shí)間為3min;一級(jí)吸附材料活化爐的吸附材料為鋯釩鐵時(shí),吸附溫度范圍為500℃~550℃,吸附時(shí)間為5min。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟c的二級(jí)吸附材料活化爐的吸附材料為鋯鋁合金材料,鋯的重量百分比為84%、鋁的重量百分比為16%。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟c的二級(jí)吸附材料活化爐為兩個(gè)并列的裝有相同吸附材料的活化爐,一個(gè)活化爐的吸附溫度范圍為200℃~400℃,另一個(gè)活化爐的吸附溫度為常溫,吸附時(shí)間均為10min。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟d的低溫吸附的吸附溫度范圍為-196℃~-185℃,吸附時(shí)間為8min~10min。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟e的低溫容器區(qū)域升溫方式為自然回溫,自然回溫的過(guò)程是去掉低溫容器區(qū)域的外置低溫裝置,使低溫容器區(qū)域暴露在室溫環(huán)境中,暴露時(shí)間大于5min。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于四極質(zhì)譜儀的大氣樣品中氙同位素豐度比的測(cè)量方法,其特征在于,所述的步驟f的測(cè)量參數(shù)中的同位素質(zhì)量數(shù)設(shè)置為峰頂值,峰頂值的偏差范圍小于0.02amu。
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