[發明專利]一種納米CT測試樣品的取樣裝置及取樣方法

在審

• 申請號: 201910402101.4
• 申請日: 2019-05-13
• 公開（公告）號: CN111929094A
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 唐永強;郎東江;呂成遠;王銳;崔茂蕾
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G01N1/04
• 分類號: G01N1/04
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所 11218
• 代理人: 孫向民;廉莉莉

一種納米CT測試樣品的取樣裝置及取樣方法，包括支撐部件，包括底座和垂直連接于底座的支撐桿；取樣部件，包括第一滑桿、取樣針夾和取樣針，第一滑桿的一端滑動連接于支撐桿，取樣針夾連接于第一滑桿的另一端，用于夾持取樣針；備樣部件，包括備樣臺，備樣臺連接于支撐桿，且位于取樣部件的下方，備樣臺上設有取樣槽孔，取樣槽孔位于取樣針的正下方，用于容納樣品顆粒。本發明涉及的一種納米CT測試樣品的取樣裝置，能夠快速簡便的提取標準的納米CT測試樣品。

技術領域

本發明屬于微觀結構檢測領域，更具體地，涉及一種納米CT測試樣品的取樣裝置及取樣方法。

背景技術

納米CT應用于生物、醫學、藥學、考古、材料、電子、地質學等領域的研究。納米CT可以在不破壞樣本的情況下清楚了解樣本的內部納米尺度的微觀結構。

納米CT要求樣品尺寸足夠小來保證X射線能夠穿透樣品并具有較高成像分辨率的要求。通常納米CT測試要求樣品的長寬高小于65μm，目前主要通過肉眼和手工制備樣品，用肉眼選擇樣品，用粘有膠水的取樣針接觸目標樣品，再到放大器鏡下篩選符合規格的樣品。上述方法存在以下缺點：取樣針上樣品位置都很難控制，樣品規格難以控制，制樣成功率極低，大量時間浪費于樣品的制備。

目前可以使用取樣器，將樣品填裝并置于取樣器腔內，從取樣器的頂部頂出并粘貼在取樣針上。但是將備樣臺上的樣品填裝入取樣器腔內的難度依然較大，且樣品可能因卡在取樣器腔內而難以頂出。

因此，需要一種納米CT測試樣品的取樣裝置，能夠快速簡便的提取標準的納米CT測試樣品。

發明內容

本發明的目的是提供一種納米CT測試樣品的取樣裝置及取樣方法，能夠快速簡便的制備標準的納米CT測試樣品，節約制樣時間，提高制樣成功率。

為了實現上述目的，本發明提供一種納米CT測試樣品的取樣裝置，包括：

支撐部件，包括底座和垂直連接于所述底座的支撐桿；

取樣部件，包括第一滑桿、取樣針夾和取樣針，所述第一滑桿的一端滑動連接于所述支撐桿，所述取樣針夾連接于所述第一滑桿的另一端，用于夾持所述取樣針；

備樣部件，包括備樣臺，所述備樣臺連接于所述支撐桿，且位于所述取樣部件下方；所述備樣臺上設有取樣槽孔，所述取樣槽孔位于所述取樣針的正下方，用于容納樣品顆粒。

優選地，所述備樣部件還包括第二滑桿，所述備樣臺通過所述第二滑桿連接于所述支撐桿，所述第一滑桿的所述一端設有第一通孔，所述第二滑桿的一端設有第二通孔，所述支撐桿由所述底座穿過所述第二通孔和第一通孔，從而所述第一滑桿和所述第二滑桿能夠沿所述支撐桿滑動。

優選地，所述支撐桿上設有齒條，所述第一滑桿的所述一端設有第一旋鈕，所述第二滑桿的所述一端設有第二旋鈕，所述第一旋鈕和所述第二旋鈕上均設有齒輪，所述齒輪與所述齒條嚙合連接。

優選地，所述第一滑桿的另一端的底部設有三角形凹槽，所述凹槽內設有磁鐵，用于吸住所述取樣針夾。

優選地，還包括分別設于所述備樣臺兩側的照明裝置和光學放大設備，所述照明裝置用于對所述備樣臺提供光源，所述光學放大設備用于放大觀察所述備樣臺上的樣品顆粒。

優選地，所述取樣槽孔為階梯狀通孔，且上部直徑大于下部直徑。

優選地，所述取樣槽孔的上部直徑和深度均不大于65μm，所述取樣槽孔的下部直徑不大于30μm。

本發明還提供一種納米CT測試樣品的取樣方法，包括：

步驟1、將樣品顆粒置于所述取樣槽孔中；