[發明專利]一種納米CT測試樣品的取樣裝置及取樣方法

在審

• 申請號: 201910402101.4
• 申請日: 2019-05-13
• 公開（公告）號: CN111929094A
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 唐永強;郎東江;呂成遠;王銳;崔茂蕾
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G01N1/04
• 分類號: G01N1/04
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所 11218
• 代理人: 孫向民;廉莉莉

1.一種納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述裝置包括：

支撐部件(1)，包括底座(11)和垂直連接于所述底座(11)的支撐桿(10)；

取樣部件(2)，包括第一滑桿(20)、取樣針夾(22)和取樣針(23)，所述第一滑桿(20)的一端滑動連接于所述支撐桿(10)，所述取樣針夾(22)連接于所述第一滑桿(20)的另一端，用于夾持所述取樣針(23)；

備樣部件(3)，包括備樣臺(32)，所述備樣臺(32)連接于所述支撐桿(10)，且位于所述取樣部件(3)下方，所述備樣臺(32)上設有取樣槽孔(33)，所述取樣槽孔(33)位于所述取樣針(23)的正下方，用于容納樣品顆粒。

2.根據權利要求1所述的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述備樣部件(3)還包括第二滑桿(30)，所述備樣臺(32)通過所述第二滑桿(30)連接于所述支撐桿(10)，所述第一滑桿(20)的所述一端設有第一通孔(24)，所述第二滑桿(30)的一端設有第二通孔(34)，所述支撐桿(10)由所述底座(11)穿過所述第二通孔(34)和第一通孔(24)，從而所述第一滑桿(20)和所述第二滑桿(30)能夠沿所述支撐桿(10)滑動。

3.根據權利要求2所述的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述支撐桿(10)上設有齒條(12)，所述第一滑桿(20)的所述一端設有第一旋鈕(21)，所述第二滑桿(30)的所述一端設有第二旋鈕(31)，所述第一旋鈕(21)和所述第二旋鈕(31)上均設有齒輪，所述齒輪與所述齒條(12)嚙合連接。

4.根據權利要求1所述的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述第一滑桿(20)的另一端的底部設有三角形凹槽(25)，所述凹槽(25)內設有磁鐵，用于吸住所述取樣針夾(22)。

5.根據權利要求1所述的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，還包括分別設于所述備樣臺(32)兩側的照明裝置(4)和光學放大設備(5)，所述照明裝置(4)用于對所述備樣臺(32)提供光源，所述光學放大設備(5)用于放大觀察所述備樣臺(32)上的樣品顆粒。

6.根據權利要求1所述的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述取樣槽孔(33)為階梯狀通孔，且上部直徑大于下部直徑。

7.根據權利要求6所述的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述取樣槽孔(33)的上部直徑和深度均不大于65μm，所述取樣槽孔(33)的下部直徑不大于30μm。

8.一種納米CT測試樣品的取樣方法，利用根據權利要求1至7中任一項的納米CT測試樣品的取樣裝置，其特征在于，所述方法包括：

步驟1、將樣品顆粒置于所述取樣槽孔(33)中；

步驟2、在所述取樣針(23)的端部涂抹膠水，并將所述第一滑桿(20)下滑至所述取樣針(23)粘取所述取樣槽孔(33)內的樣品顆粒后，將所述第一滑桿(20)上滑使所述樣品顆粒脫離所述取樣槽孔(33)；

步驟3、待膠水固化后，取下所述取樣針夾(22)，獲得所述樣品顆粒。

9.根據權利要求8所述的納米CT測試樣品的取樣方法，其特征在于，所述步驟1包括：

將多個樣品顆粒鋪設于所述備樣臺(32)上，并將至少一個所述樣品顆粒刷掃至所述取樣槽孔(33)中。

10.根據權利要求8所述的納米CT測試樣品的取樣方法，其特征在于，還包括：在所述步驟1之前，利用篩子獲得設定直徑的多個樣品顆粒。