[發明專利]一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法及裝置

在審

• 申請號: 201910400598.6
• 申請日: 2019-05-14
• 公開（公告）號: CN111949506A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 陳茂清;何建宏;歐陽征定;劉茂;甘杰家;陳根余;陳焱;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司;大族激光智能裝備集團有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G05B19/4093
• 代理公司: 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385
• 代理人: 汪琳琳

本發明公開了一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法及裝置，能夠解決傳統示教軌跡修改方法不能直接通過程序回退功能對需要修改的程序段進行多次修改的問題，其中修改方法步驟如下：監控R參數變量，獲取R參數變量中的程序名稱和數控NC路徑；提取對應的程序文本，并進行存儲和顯示；單步執行示教程序，當歩進走完第N程序行時，判斷第N程序行內五軸參數的軌跡是否存在偏差；如果所述五軸參數的軌跡存在偏差，則在五軸參數的基礎上調整五軸參數的軌跡位置、或對第N程序行內的示教采樣點重新取點；繼續單步執行示教程序，修改下一個目標點的五軸參數的值，直至所有目標點的五軸參數值精度滿足要求。

技術領域

本發明涉及數控系統運動控制領域，尤其涉及一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法及裝置。

背景技術

如圖1所示流程，當前在西門子840D數控系統示教功能模式下，操作人員只能通過系統示教界面的快速點定位指令G00、直線插補指令G01、圓弧插補指令CIP中點和圓弧插補指令CIP終點功能按鍵選擇對應的程序段進行插入；通過刪除程序段功能按鍵對程序段進行刪除；通過程序段修改功能對整個示教程序進行修改。

隨著三維五軸切割機床示教功能需求的增加，在程序示教完成后可能需要對單個程序段的五軸參數進行多次微調整。首先，通過840D數控系統的程序修改功能修改五軸參數完成后需要重新運行整個示教程序，直到該程序段執行完畢才能確認該程序段的五軸參數是否滿足精度要求，不能直接通過程序回退功能對需要修改的程序段進行多次修改，直到滿足精度要求為止；其次，程序修改功能權限開放，以程序文本的形式進行修改很容易導致誤修改，一旦五軸參數修改不合理，修改程序的工作量反而增加，甚至使得示教程序作廢，造成不必要的損失；再次，示教程序段的多少取決于工件復雜度，一旦需要修改的程序段點太多，修改再執行的反復過程將會耗費工作人員大量的時間和精力。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法及裝置，能夠解決傳統示教軌跡修改方法不能直接通過程序回退功能對需要修改的程序段進行多次修改的問題。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供了一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法，具體步驟如下：

監控R參數變量，獲取R參數變量中的程序名稱和數控NC路徑；根據程序名稱和NC路徑提取對應的程序文本；

單步執行示教程序，當示教程序歩進走完第N程序行時，判斷第N程序行內五軸參數的軌跡是否存在偏差；其中，N為正整數；

如果五軸參數的軌跡存在偏差，則在五軸參數的基礎上調整五軸參數的軌跡位置、或對第N程序行內的示教采樣點重新取點；

繼續單步執行示教程序，修改下一個目標點的五軸參數的值，直至所有目標點的五軸參數值精度滿足要求；目標點為五軸參數值精度不滿足要求的示教采樣點。

其中，在五軸參數的基礎上調整五軸參數的軌跡位置的方法如下：

根據精度要求，在第N程序行內依次添加五軸參數的增益，將文本指針指向修改后的第N程序行；

根據修改后的第N程序行的內容和第N-1程序行的內容構造回退程序，將所述回退程序進行加載并執行；

加載原示教程序，并將文本指針指向第N-1程序行；

歩進程序，執行修改后的第N程序行的程序，文本指針重新指向修改后的第N程序行。

其中，對第N程序行內的示教采樣點重新取點的方法如下：

在程序文本中刪除第N程序行的五軸參數后，令文本指針指向第N-1程序行；

通過重新手動移軸取點的方式示教插入第N程序行，將文本指針指向重新插入的第N程序行。