[發明專利]一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法及裝置在審
| 申請號: | 201910400598.6 | 申請日: | 2019-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN111949506A | 公開(公告)日: | 2020-11-17 |
| 發明(設計)人: | 陳茂清;何建宏;歐陽征定;劉茂;甘杰家;陳根余;陳焱;高云峰 | 申請(專利權)人: | 大族激光科技產業集團股份有限公司;大族激光智能裝備集團有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36;G05B19/4093 |
| 代理公司: | 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385 | 代理人: | 汪琳琳 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 三維 程序 功能 軌跡 修改 方法 裝置 | ||
1.一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,具體步驟如下:
監控R參數變量,獲取R參數變量中的程序名稱和數控NC路徑;根據所述程序名稱和所述NC路徑提取對應的程序文本;
單步執行示教程序,當示教程序歩進走完第N程序行時,判斷所述第N程序行內五軸參數的軌跡是否存在偏差;其中,N為正整數;
如果所述五軸參數的軌跡存在偏差,則在所述五軸參數的基礎上調整所述五軸參數的軌跡位置、或對所述第N程序行內的示教采樣點重新取點;
繼續單步執行示教程序,修改下一個目標點的五軸參數的值,直至所有目標點的五軸參數值精度滿足要求;目標點為五軸參數值精度不滿足要求的示教采樣點。
2.根據權利要求1所述的一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,在所述五軸參數的基礎上調整所述五軸參數的軌跡位置的方法如下:
根據精度要求,在第N程序行內依次添加五軸參數的增益,將文本指針指向修改后的第N程序行;
根據修改后的第N程序行的內容和第N-1程序行的內容構造回退程序,將所述回退程序進行加載并執行;
加載原示教程序,并將文本指針指向第N-1程序行;
歩進程序,執行修改后的第N程序行的程序,文本指針重新指向修改后的第N程序行。
3.根據權利要求1或2所述的一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,對所述第N程序行內的示教采樣點重新取點的方法如下:
刪除第N程序行的五軸參數,令文本指針指向第N-1程序行;
通過重新手動移軸取點示教的方式插入第N程序行,將文本指針指向重新插入的第N程序行。
4.根據權利要求3所述的一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,
通過執行回退程序后再歩進的方式,確認重新插入的第N程序行的五軸參數的精度。
5.根據權利要求2或4所述的一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,回退程序的構造方法如下:
在修改或重新插入第N程序行后,重新標記所有程序行的行號、五軸參數和類型,并根據程序行的行號查找第N-1程序行;
提取第N程序行的類型和五軸參數,以及第N-1程序行的類型和五軸參數;
根據相應的重組方案進行重組構成回退程序,所述重組方案如下:
第N程序行的類型G00與第N-1程序行的五軸終點位置進行重組;
第N程序行的類型G01、第N-1程序行的五軸終點位置和指定移動速度進行重組;
第N程序行的類型CIP、第N程序行的的中點位置、第N-1程序行的五軸終點位置和指定移動速度進行重組。
6.根據權利要求1所述的一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,還包括,
判斷所述第N程序行修改后五軸參數的軌跡是否滿足精度要求,如果滿足精度要求則繼續單步執行示教程序,修改下一個目標點的五軸參數的值,直至所有目標點的五軸參數值精度滿足要求;
如果沒有滿足精度要求則在所述五軸參數的基礎上調整所述五軸參數的軌跡位置、或對所述第N程序行內的示教采樣點重新取點。
7.根據權利要求1、2、4或6所述的一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改方法,其特征在于,
五軸參數包括類型G00的X、Y、Z、A和C五軸參數;類型G01的X、Y、Z、A和C五軸參數;類型CIP的中點I、J和K參數以及類型CIP的終點X、Y、Z、A和C五軸參數。
8.一種基于三維程序回退功能的示教軌跡修改裝置,其特征在于,包括
監控模塊,用于對R參數變量進行監控;
NC系統模塊,用于執行機床的示教程序;
程序修改模塊,用于提取程序文本并對示教程序進行修改。
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