[發(fā)明專利]桌面級射頻微波指標篩選設備及其控制方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910399276.4
• 申請日: 2019-05-14
• 公開（公告）號: CN110038809A
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發(fā)明（設計）人: 竇國珍;羅偉
• 申請（專利權）人: 成都云繹智創(chuàng)科技有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 成都環(huán)泰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 51242
• 代理人: 李斌;黃青

本發(fā)明公開了一種桌面級射頻微波指標篩選設備，包括底座，所述底座的兩側均設有傳動箱，所述傳動箱的頂部設有Y軸軌道，所述Y軸軌道上滑動連接有滑塊，兩個所述滑塊之間設有相互平行的X軸軌道和絲桿，所述X軸軌道上滑動連接有抓取機構，所述抓取機構上設有CCD視覺相機和機械手，所述絲桿穿過所述抓取機構，所述絲桿與設置在所述滑塊上的電機傳動連接；所述底座上還設有控制器、測試工裝和測試盤，所述CCD視覺相機、機械手、電機和測試工裝均與控制器電性連接。本發(fā)明可自動進行器件的篩選、分揀、測試，生產效率高，適應多品種小批量的生產需求。

技術領域

本發(fā)明涉及器件篩選分揀技術領域，特別是涉及一種桌面級射頻微波指標篩選設備及其控制方法。

背景技術

目前市場缺乏桌面級射頻微波指標篩選設備，在對器件進行篩選、分揀、測試時，需要工作人員將被測件用鑷子夾取，放置到測試工裝上，然后人工操作儀表進行指標測試。存在以下問題：

1、器件拿去過程中的靜電損傷；

2、手動篩選測試效率低，對人員依賴大；

3、人員操作測試的同時，無法進行其他產品調試測試，生產效率低下；

4、人工操作，產品外觀容易損壞，鍍金鍍銀產品容易氧化。

發(fā)明內容

為解決現(xiàn)有技術中存在的問題，本發(fā)明提供了一種桌面級射頻微波指標篩選設備及其控制方法，可自動進行器件的篩選、分揀、測試，生產效率高，適應多品種小批量的生產需求。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術方案是：

一種桌面級射頻微波指標篩選設備，包括底座，所述底座的兩側均設有傳動箱，所述傳動箱的頂部設有Y軸軌道，所述Y軸軌道上滑動連接有滑塊；其中一個所述傳動箱的內部設有與該傳動箱上的Y軸軌道平行的第一絲桿，所述第一絲桿與設置在該傳動箱外部的第一電機的輸出軸連接，該傳動箱的頂部還開有滑道，該傳動箱上的所述滑塊上設有連接板，所述連接板通過所述滑道伸入該傳動箱的內部并連接有傳動塊，所述傳動塊設置在所述第一絲桿上。

兩個所述滑塊之間設有相互平行的X軸軌道和第二絲桿，所述X軸軌道上滑動連接有抓取機構，所述抓取機構上設有CCD視覺相機和機械手，所述第二絲桿穿過所述抓取機構，所述第二絲桿與設置在所述滑塊上的第二電機的輸出軸連接。

所述底座上還設有控制器、測試工裝和測試盤，所述CCD視覺相機的信號輸出端連接所述控制器的第一信號輸入端，所述測試工裝的信號輸出端連接所述控制器的第二信號輸入端，所述控制器的第一信號輸出端連接所述第一電機的信號輸入端，所述控制器的第二信號輸出端連接所述第二電機的信號輸入端，所述控制器的第三信號輸出端連接所述機械手的信號輸入端。