[發(fā)明專利]一種基于完好性風險控制的整周模糊度正確性檢驗方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910385631.2
• 申請日: 2019-05-09
• 公開（公告）號: CN110058283A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發(fā)明（設計）人: 李亮;李京澤;程建華;齊兵;黃衛(wèi)權;賈春
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工程大學
• 主分類號: G01S19/44
• 分類號: G01S19/44
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于完好性風險控制的整周模糊度正確性檢驗方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1、根據(jù)不同衛(wèi)星幾何分布、頻率數(shù)目、測量噪聲、基線長度以及大氣修正模型因素建立對應的系統(tǒng)解算模型；

步驟2、根據(jù)事先設定的模糊度風險概率計算所能接受的失敗率；

步驟3、利用步驟1中得到的模型計算先驗失敗率，利用Bootstrapping取整方式對其進行估算，比較先驗失敗率和步驟2得到的失敗率，若小于步驟2的失敗率，則不用改變門限值，否則需要繼續(xù)計算，修改門限值；

步驟4、利用蒙特卡洛仿真器生成10⁵個模糊度浮點解的值，且這些浮點解的值服從零均值正態(tài)分布；

步驟5、利用整數(shù)最小二乘確定步驟4得到的模糊度值中的最優(yōu)解與次優(yōu)解，并計算出相應的比率值；

步驟6、獲得步驟5中的比率值后，確定閾值的取值范圍；

步驟7、利用步驟6得到閾值范圍后，計算出不同閾值對應的模糊度失敗率，并搜索閾值得到與步驟2得到的可接受失敗率相同的失敗率，得到門限值。