[發(fā)明專利]一種激光二極管測試設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910375127.4
• 申請日: 2019-05-07
• 公開（公告）號: CN110057553A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王勝利;楊波
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市矽電半導(dǎo)體設(shè)備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明提出一種激光二極管測試設(shè)備。所述激光二極管測試設(shè)備包括，機(jī)架；上料部，安裝于機(jī)架；所述上料部用于放置待測激光二極管芯粒；傳料部，安裝于機(jī)架；所述傳料部用于將激光二極管芯粒傳輸?shù)筋A(yù)定的位置；第一測試部，安裝于機(jī)架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從上料部傳輸?shù)剿龅谝粶y試部，所述第一測試部對激光二極管芯粒進(jìn)行測試；第二測試部，安裝于機(jī)架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從第一測試部傳輸?shù)降诙y試部，所述第二測試部對激光二極管芯粒進(jìn)行測試；收料部，安裝于機(jī)架；所述傳料部能夠?qū)⒌诙y試部上的激光二極管芯粒傳輸?shù)绞樟喜俊?/p>

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種激光二極管測試設(shè)備。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的激光二極管測試設(shè)備采用5個(gè)測試工位的布局，5個(gè)測試工位為常溫后端光功率測試、常溫前端光功率測試、常溫光波長測試、高溫前端光功率測試和高溫光波長測試，此種多個(gè)工位的布局使設(shè)備占用空間大，而且每個(gè)工位需要對激光二極管芯粒進(jìn)行位置和角度調(diào)節(jié)，測試效率不高。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述激光二極管芯粒測試設(shè)備占用空間大，測試效率低的問題，本發(fā)明提出一種占用空間小、測試效率高的激光二極管測試設(shè)備方案。

本發(fā)明的技術(shù)方案為：所述激光二極管測試設(shè)備包括，

機(jī)架；

上料部，安裝于機(jī)架；所述上料部用于放置待測激光二極管芯粒；

傳料部，安裝于機(jī)架；所述傳料部用于將激光二極管芯粒傳輸?shù)筋A(yù)定的位置；

第一測試部，安裝于機(jī)架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從上料部傳輸?shù)剿龅谝粶y試部，所述第一測試部對激光二極管芯粒進(jìn)行測試；

第二測試部，安裝于機(jī)架；所述傳料部能夠?qū)⒓す舛O管芯粒從第一測試部傳輸?shù)降诙y試部，所述第二測試部對激光二極管芯粒進(jìn)行測試；

收料部，安裝于機(jī)架；所述傳料部能夠?qū)⒌诙y試部上的激光二極管芯粒傳輸?shù)绞樟喜俊?/p>

進(jìn)一步的，所述上料部、第一測試部、第二測試部和收料部沿第一直線依次排布。

進(jìn)一步的，所述第一測試部為常溫測試結(jié)構(gòu)；所述第二測試部為高溫測試結(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步的，傳料部包括第一支撐部和第一取料部，所述第一支撐部連接于機(jī)架，所述第一取料部通過滑軌水平連接于第一支撐部；所述第一取料部能夠用于取放芯粒。

進(jìn)一步的，所述第一測試部包括，

測試承載部，連接于機(jī)架，用于放置待測試的芯粒；

第一探針部，連接于機(jī)架，用于對放置于測試承載部的芯粒電連接；

后端光功率測試部，連接于機(jī)架，用于測試芯粒后端的發(fā)光光功率；

第一前端光功率測試部，連接于機(jī)架，用于測試芯粒的前端發(fā)光光功率；

光波長測試部，連接于于機(jī)架，用于測試芯粒的前端發(fā)光波長。

進(jìn)一步的，所述測試承載部設(shè)置有連接真空的吸附孔，待測試芯粒通過所述吸附孔真空吸附于測試承載部。

進(jìn)一步的，所述測試承載部包括加熱部和溫度感應(yīng)部，所述加熱部調(diào)節(jié)溫度使待測試的芯粒處于預(yù)設(shè)的溫度環(huán)境，所述溫度感應(yīng)部用于檢測待測芯粒所處環(huán)境的溫度。

進(jìn)一步的，所述第一前端光功率測試部和光波長測試部均通過滑動(dòng)安裝部連接于機(jī)架。

進(jìn)一步的，所述第一探針部和后端光功率測試部均通過運(yùn)動(dòng)安裝部連接于機(jī)架。

進(jìn)一步的，所述運(yùn)動(dòng)安裝部通過豎向滑軌連接于機(jī)架；