[發明專利]一種激光二極管測試設備

在審

• 申請號: 201910375127.4
• 申請日: 2019-05-07
• 公開（公告）號: CN110057553A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 王勝利;楊波
• 申請（專利權）人: 深圳市矽電半導體設備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種激光二極管測試設備，其特征在于：所述激光二極管測試設備（100）包括，

機架（20）；

上料部（30），安裝于機架（20）；所述上料部（30）用于放置待測激光二極管芯粒；

傳料部（40），安裝于機架（20）；所述傳料部（40）用于將激光二極管芯粒傳輸到預定的位置；

第一測試部（50），安裝于機架（20）；所述傳料部（40）能夠將激光二極管芯粒從上料部（30）傳輸到所述第一測試部（50），所述第一測試部（50）對激光二極管芯粒進行測試；

第二測試部（60），安裝于機架（20）；所述傳料部（40）能夠將激光二極管芯粒從第一測試部（50）傳輸到第二測試部（60），所述第二測試部（60）對激光二極管芯粒進行測試；

收料部（70），安裝于機架（20）；所述傳料部（40）能夠將第二測試部（60）上的激光二極管芯粒傳輸到收料部（70）。

2.根據權利要求1所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述上料部（30）、第一測試部（50）、第二測試部（60）和收料部（70）沿第一直線依次排布。

3.根據權利要求1所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述第一測試部（50）為常溫測試結構；所述第二測試部（60）為高溫測試結構。

4.根據權利要求2或3所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

傳料部（40）包括第一支撐部（41）和第一取料部（42），所述第一支撐部（41）連接于機架（20），所述第一取料部（42）通過滑軌水平連接于第一支撐部（41）；所述第一取料部（42）能夠用于取放芯粒。

5.根據權利要求2或3所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述第一測試部（50）包括，

測試承載部（51），連接于機架（20），用于放置待測試的芯粒；

第一探針部（52），連接于機架（20），用于對放置于測試承載部（51）的芯粒電連接；

后端光功率測試部（53），連接于機架（20），用于測試芯粒后端的發光光功率；

第一前端光功率測試部（54），連接于機架（20），用于測試芯粒的前端發光光功率；

光波長測試部（55），連接于于機架（20），用于測試芯粒的前端發光波長。

6.根據權利要求5所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述測試承載部（51）設置有連接真空的吸附孔，待測試芯粒通過所述吸附孔真空吸附于測試承載部（51）。

7.根據權利要求6所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述測試承載部（51）包括加熱部和溫度感應部，所述加熱部調節溫度使待測試的芯粒處于預設的溫度環境，所述溫度感應部用于檢測待測芯粒所處環境的溫度。

8.根據權利要求5所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述第一前端光功率測試部（54）和光波長測試部（55）均通過滑動安裝部（56）連接于機架（20）。

9.根據權利要求5所述的激光二極管測試設備，其特征在于：

所述第一探針部（52）和后端光功率測試部（53）均通過運動安裝部（57）連接于機架（20）。

10.根據權利要求9所述的激光二極管測試設備，其特征在于：所述運動安裝部（57）通過豎向滑軌連接于機架（20）；

驅動電機固定于機架（20），所述驅動電機連接有凸輪，所述凸輪止抵于運動安裝部（57）下端。