[發明專利]一種基于反射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法在審
| 申請號： | 201910368957.4 | 申請日： | 2019-05-05 |
| 公開（公告）號： | CN110031482A | 公開（公告）日： | 2019-07-19 |
| 發明（設計）人： | 駱聰;袁春輝;楊鵬 | 申請（專利權）人： | 蘇州天準科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/958 | 分類號： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 蘇州國誠專利代理有限公司 32293 | 代理人： | 王麗 |
| 地址： | 215163 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 分布圖 反射式結構 檢測 玻璃樣品 玻璃瑕疵 相位梯度 調制度 面陣 瑕疵 光照 結構光光源 瑕疵檢測 成像 調制 探測 圖像 玻璃 配置 | ||
1.一種基于反射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：其包括如下步驟：
S1、結構光光源設置于待檢玻璃樣品上方，所述結構光光源上的光強呈條紋分布，所述待檢玻璃樣品放置于運動掃描機構上；
S2、成像模組安裝于所述待檢玻璃樣品斜上方，調節所述成像模組的鏡頭，以使其對所述待檢玻璃樣品清晰成像；
S3、所述結構光光源的結構光條紋沿法向平移，平移距離為所述結構光光源周期的1/N，N＝3,4,5…；
S4、所述成像模組對所述待檢玻璃樣品成像，所得圖像中的所述待檢玻璃樣品被所述結構光光源調制，使得所述待檢玻璃樣品圖像上出現明顯的條紋結構；
S5、重復N次所述步驟S3和S4，獲得N幅調制后的待檢玻璃樣品圖像，記圖像為Ij(j＝1，2，3，…N)；隨后根據獲得的N幅圖像計算出每個像素對應的調制度和相位梯度，獲得調制度分布圖和相位梯度分布圖；
S6、通過機器視覺算法或者深度學習算法，分析調制度分布圖、相位梯度分布圖和原始灰度圖之間的特征形式，即可實現玻璃表面瑕疵的全類型檢測。
2.根據權利要求1所述的一種基于反射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述步驟S5中，重復4次所述步驟S3和S4，獲得4幅調制后的待檢玻璃樣品圖像，記圖像為I1、I2、I3、I4，根據獲得的4幅圖像計算出每個像素對應的調制度和相位梯度，其中，調制度和相位梯度θ的計算公式為：
I1＝I0+Icos(θ)
I3＝I0+Icos(θ+π)
根據上述公式,I1-I3＝2Icos(θ),I2-I4＝2Isin(θ)
得到
其中，I0為圖像光強分布的基頻信息，I為圖像光強分布中波動信息的幅值。
3.根據權利要求1所述的一種基于反射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述結構光光源的光強呈正弦型、矩形、鋸齒形或者其他形式的周期條紋分布。
4.根據權利要求1所述的一種基于反射式結構光照明的玻璃瑕疵檢測方法，其特征在于：所述條紋的平移次數大于3次，所述條紋為等間距或變間距平移。
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