[發(fā)明專利]一種波像差測量裝置及光刻機(jī)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910365328.6 | 申請日: | 2019-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN111856885B | 公開(公告)日: | 2021-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 夏建培;馬明英 | 申請(專利權(quán))人: | 上海微電子裝備(集團(tuán))股份有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 波像差 測量 裝置 光刻 | ||
本發(fā)明公開了一種波像差測量裝置及光刻機(jī)。所述波像差測量裝置包括:照明系統(tǒng),以及物面光柵板、投影物鏡、像面光柵板和光電探測器;物面光柵板和像面光柵板均為透明光柵板;物面光柵板包括物面光柵,物面光柵由多個(gè)間隔均勻的凸起部或凹陷部排列組成,凸起部的高度或凹陷部的深度為d;像面光柵板包括像面光柵,像面光柵由多個(gè)間隔均勻的凸起部或凹陷部排列組成,凸起部的高度或凹陷部的深度為d;其中,d=λ(k+1/2)/(n折?1),λ為入射光的波長,k為正整數(shù),n折為對應(yīng)光柵板的折射率。本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案,提高了用于波像差測量的光的光強(qiáng),以及波像差測量的精度,且物面光柵和像面光柵的制備工藝簡單,制備成本低。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及波像差測量技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種波像差測量裝置及光刻機(jī)。
背景技術(shù)
投影物鏡波像差是影響光刻機(jī)成像質(zhì)量的關(guān)鍵因素,對于高分辨率的光刻機(jī)投影物鏡波像差可以采用干涉的方法進(jìn)行測量。
現(xiàn)有技術(shù)中波相差測量裝置包括照明系統(tǒng)以及沿照明系統(tǒng)發(fā)出的光的光路依次設(shè)置的物面光柵、投影物鏡、像面光柵和探測器,其中,物面光柵和像面光柵均為振幅型光柵,這種光柵的衍射光具有很強(qiáng)的零頻光,導(dǎo)致干涉光除包括正負(fù)1級光外,還包括零頻光,使得正負(fù)1級光的干涉對比度下降,進(jìn)而波像差測量精度下降。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種波像差測量裝置及光刻機(jī),以去除光柵衍射中的零頻光,提高用于波像差測量的光的強(qiáng)度,提高測量精度。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種波像差測量裝置,包括:
照明系統(tǒng),以及沿所述照明系統(tǒng)發(fā)出的光的光路依次排列的物面光柵板、投影物鏡、像面光柵板以及光電探測器;
所述物面光柵板和所述像面光柵板均為透明光柵板;
所述物面光柵板包括物面光柵,所述物面光柵由多個(gè)間隔均勻的凸起部或凹陷部排列組成,所述凸起部的高度或所述凹陷部的深度為d;
所述像面光柵板包括像面光柵,所述像面光柵由多個(gè)間隔均勻的凸起部或凹陷部排列組成,所述凸起部的高度或所述凹陷部的深度為d;
其中,d=λ(k+1/2)/(n折-1),λ為入射光的波長,k為正整數(shù),n折為對應(yīng)光柵板的折射率。
第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種光刻機(jī),包括上述第一方面所述的波像差測量裝置。
本發(fā)明實(shí)施例提供的波像差測量裝置包括照明系統(tǒng),以及沿照明系統(tǒng)發(fā)出的光的光路依次排列的物面光柵板、投影物鏡、像面光柵板以及光電探測器,物面光柵板和像面光柵板均為透明光柵板,物面光柵板包括物面光柵,物面光柵由多個(gè)間隔均勻的凸起部或凹陷部排列組成,凸起部的高度或凹陷部的深度為d,像面光柵板包括像面光柵,像面光柵由多個(gè)間隔均勻的凸起部或凹陷部排列組成,凸起部的高度或凹陷部的深度為d,其中,d=λ(k+1/2)/(n折-1),λ為入射光的波長,k為正整數(shù),n折為對應(yīng)光柵板的折射率,使得物面光柵和像面光柵均為二元相移光柵,其衍射光中沒有零頻光和偶數(shù)級衍射光,僅有正負(fù)1級衍射光,提高了用于波像差測量的光的光強(qiáng),以及波像差測量的精度,此外,物面光柵和像面光柵均采用刻蝕透明板材的工藝形成,其工藝過程簡單,制備成本低。
附圖說明
為了更加清楚地說明本發(fā)明示例性實(shí)施例的技術(shù)方案,下面對描述實(shí)施例中所需要用到的附圖做一簡單介紹。顯然,所介紹的附圖只是本發(fā)明所要描述的一部分實(shí)施例的附圖,而不是全部的附圖,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖得到其他的附圖。
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種波像差測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種物面光柵板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖;
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