[發明專利]一種顯示面板及其殘影測試裝置和方法有效
| 申請號: | 201910363918.5 | 申請日: | 2019-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN109949730B | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發明(設計)人: | 趙文炎;朱暉;李永崗;朱正勇 | 申請(專利權)人: | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659 | 代理人: | 張海英 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 顯示 面板 及其 測試 裝置 方法 | ||
本發明實施例公開了一種顯示面板及其殘影測試裝置和方法。其中,該顯示面板包括:顯示區和圍繞顯示區的非顯示區,該顯示面板包括:一一對應電連接的至少一個第一像素驅動電路和至少一個第一發光元件,位于顯示區;任一第一像素驅動電路對應設置有兩條引出線,兩條引出線位于第一發光元件的驅動電流的流通路徑上,兩條引出線的第一端位于顯示區,兩條引出線的第二端位于非顯示區,與第一像素驅動電路對應的兩條引出線對應設置外部線路,兩條引出線的第二端分別與外部線路的兩端電連接。本發明實施例提供的技術方案可以提高顯示面板的殘影測試精度,減小測試誤差。
技術領域
本發明涉及顯示技術,尤其涉及一種顯示面板及其殘影測試裝置和方法。
背景技術
為了提高顯示裝置的性能和質量,在生產過程中,需要對顯示裝置的分辨率、亮度、對比度、色域、響應時間、殘像等級等性能指標進行檢測和評定。其中,殘像是指影像殘留。當顯示裝置的顯示畫面切換至下一個畫面時,顯示面板上會殘留上一個畫面的圖像,從而造成影像殘留的現象,即出現殘影。殘影會嚴重影響顯示器的畫面品質。
現有技術通過人眼觀察顯示裝置的殘影進行測試,存在人為誤差因素的影響,導致測試結果誤差較大。
發明內容
本發明實施例提供一種顯示面板及其殘影測試裝置和方法,以提高顯示面板的殘影測試精度,減小測試誤差。
第一方面,本發明實施例提供了一種顯示面板,包括:顯示區和圍繞顯示區的非顯示區,
該顯示面板包括:一一對應電連接的至少一個第一像素驅動電路和至少一個第一發光元件,位于顯示區;
任一第一像素驅動電路對應設置有兩條引出線,兩條引出線位于第一發光元件的驅動電流的流通路徑上,兩條引出線的第一端位于顯示區,兩條引出線的第二端位于非顯示區,
與第一像素驅動電路對應的兩條引出線對應設置外部線路,兩條引出線的第二端分別與外部線路的兩端電連接。
進一步地,第一像素驅動電路的數量為兩個,第一發光元件的數量為兩個;
顯示面板還包括:第一掃描線,兩個第一像素驅動電路與第一掃描線電連接,兩個第一像素驅動電路關于顯示面板的第一對稱軸對稱,第一對稱軸垂直于第一掃描線。
進一步地,至少一個第一子像素電路位于顯示區的中間位置或邊緣區域。
進一步地,任一外部線路包括兩根導線和插接組件,與外部線路對應的兩條引出線的第一端分別與兩根導線的第一端一一對應電連接,兩根導線的第二端與插接組件電連接。
進一步地,第一像素驅動電路的驅動晶體管的第一極經對應的兩條引出線與第一發光元件的陽極電連接。
進一步地,第一發光元件的陰極經對應的兩條引出線與第一電壓信號線電連接。
第二方面,本發明實施例還提供了一種用于測試本發明任意實施例提供的顯示面板的殘影測試裝置,包括:
測試控制模塊,與顯示面板電連接,用于在第一時間段,向顯示面板輸入與初始畫面對應的數據電壓信號,且在第二時間段,向顯示面板輸入與預設畫面對應的數據電壓信號;
至少一個電流檢測模塊,與至少一個外部線路一一對應設置,任一電流檢測模塊用于檢測對應的第一發光元件在第二時間段內的驅動電流,并輸出檢測信號;
信號處理模塊,與至少一個電流檢測模塊的輸出端電連接,用于對檢測信號進行處理。
進一步地,電流檢測模塊包括電流霍爾傳感器,外部線路穿過對應的電流霍爾傳感器的磁芯,電流霍爾傳感器的輸出端與電流檢測模塊的輸出端電連接。
第三方面,本發明實施例還提供了一種用于測試本發明任意實施例提供的顯示面板的殘影測試方法,包括:
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