[發明專利]一種顯示面板及其殘影測試裝置和方法有效
| 申請號: | 201910363918.5 | 申請日: | 2019-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN109949730B | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發明(設計)人: | 趙文炎;朱暉;李永崗;朱正勇 | 申請(專利權)人: | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659 | 代理人: | 張海英 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 顯示 面板 及其 測試 裝置 方法 | ||
1.一種顯示面板,其特征在于,包括:顯示區和圍繞所述顯示區的非顯示區,
該顯示面板包括:一一對應電連接的至少一個第一像素驅動電路和至少一個第一發光元件,位于所述顯示區;
任一所述第一像素驅動電路對應設置有兩條引出線,所述兩條引出線位于所述第一發光元件的驅動電流的流通路徑上,所述兩條引出線的第一端位于所述顯示區,所述兩條引出線的第二端位于所述非顯示區,
與第一像素驅動電路對應的兩條引出線對應設置外部線路,所述兩條引出線的第二端分別與所述外部線路的兩端電連接;
所述顯示面板進行殘影測試時配置為:
在第一時間段,向所述顯示面板輸入與初始畫面對應的數據電壓信號;
在第二時間段,向所述顯示面板輸入與預設畫面對應的數據電壓信號;
獲取任一所述第一發光元件在第二時間段內的驅動電流;
根據所述第一發光元件在第二時間段內的驅動電流,確定殘影水平。
2.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述第一像素驅動電路的數量為兩個,所述第一發光元件的數量為兩個;
所述顯示面板還包括:第一掃描線,所述兩個第一像素驅動電路與所述第一掃描線電連接,所述兩個第一像素驅動電路關于所述顯示面板的第一對稱軸對稱,所述第一對稱軸垂直于所述第一掃描線。
3.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述至少一個第一子像素電路位于所述顯示區的中間位置或邊緣區域。
4.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,任一所述外部線路包括兩根導線和插接組件,與所述外部線路對應的兩條引出線的第一端分別與兩根導線的第一端一一對應電連接,所述兩根導線的第二端與所述插接組件電連接。
5.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述第一像素驅動電路的驅動晶體管的第一極經對應的兩條引出線與所述第一發光元件的陽極電連接。
6.根據權利要求1所述的顯示面板,其特征在于,所述第一發光元件的陰極經對應的兩條引出線與第一電壓信號線電連接。
7.一種用于測試權利要求1-6任一所述的顯示面板的殘影測試裝置,其特征在于,包括:
測試控制模塊,與所述顯示面板電連接,用于在第一時間段,向所述顯示面板輸入與初始畫面對應的數據電壓信號,且在第二時間段,向所述顯示面板輸入與預設畫面對應的數據電壓信號;
至少一個電流檢測模塊,與所述至少一個外部線路一一對應設置,任一所述電流檢測模塊用于檢測對應的第一發光元件在第二時間段內的驅動電流,并輸出檢測信號;
信號處理模塊,與所述至少一個電流檢測模塊的輸出端電連接,用于對所述檢測信號進行處理。
8.根據權利要求7所述的用于顯示面板的殘影測試裝置,其特征在于,所述電流檢測模塊包括電流霍爾傳感器,所述外部線路穿過對應的電流霍爾傳感器的磁芯,所述電流霍爾傳感器的輸出端與所述電流檢測模塊的輸出端電連接。
9.一種用于測試權利要求1-6任一所述的顯示面板的殘影測試方法,其特征在于,包括:
在第一時間段,向所述顯示面板輸入與初始畫面對應的數據電壓信號;
在第二時間段,向所述顯示面板輸入與預設畫面對應的數據電壓信號;
獲取任一所述第一發光元件在第二時間段內的驅動電流;
根據所述第一發光元件在第二時間段內的驅動電流,確定殘影水平。
10.根據權利要求9所述的殘影測試方法,其特征在于,當所述第一像素驅動電路的個數為至少兩個,所述第一發光元件的個數為至少兩個時,
所述至少兩個第一像素驅動電路在所述第二時間段的數據電壓信號對應的灰階大于所述至少兩個第一像素驅動電路在所述第一時間段的數據電壓信號對應的灰階的最小值,小于所述至少兩個第一像素驅動電路在所述第一時間段的數據電壓信號對應的灰階的最大值。
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