[發明專利]一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法有效
| 申請號: | 201910363510.8 | 申請日: | 2019-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN110082419B | 公開(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發明(設計)人: | 曹成喜;張強;劉偉文;李國慶;劉小平 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | G01N27/447 | 分類號: | G01N27/447 |
| 代理公司: | 上海科盛知識產權代理有限公司 31225 | 代理人: | 顧艷哲 |
| 地址: | 200030 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 快速 檢測 納米 顆粒 表面 含量 方法 | ||
1.一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,該方法為:設置不含樣品的對照組和含待檢納米顆粒的檢測組,進行電泳滴定,測定相同時間內對照組和檢測組的界面遷移距離,根據界面遷移距離的差值計算檢測組的納米顆粒表面配體含量;
所述方法具體步驟為:
(1)配置加有指示劑的高交聯凝膠并分為兩份,一份凝膠中不加任何樣品設置為對照組,一份凝膠中加入待檢測納米顆粒樣品設置為檢測組,取等量分別注入到電泳滴定儀器的兩個電泳通道內;
(2)待對照組和檢測組中的凝膠聚合后,在電泳滴定儀器的電泳通道及通道兩邊的電極液池內加入電極緩沖液,連接電源進行電泳;
(3)電泳過程中指示劑指示形成可視的移動中和界面,一段時間后,關閉電源停止電泳,根據兩組界面遷移距離的差值計算檢測組的納米顆粒表面配體含量;
所述納米顆粒表面配體含量通過以下公式計算:
Δdrel=dblank-dNPs
公式中,表示納米顆粒表面配體含量;c表示滴定標準液的濃度;dblank和dNPs分別表示對照組和檢測組在相同時間內中和界面遷移距離,Δdrel表示兩個界面距離差。
2.根據權利要求1所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,待檢納米顆粒表面配體為酸性時,指示劑采用堿性指示劑,步驟(2)中加入陰極液池的電極緩沖液混有堿液,OH-離子的濃度為10-50mM。
3.根據權利要求2所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,步驟(3)的具體方法為:
當電泳通道中的指示劑顯色后并移動形成中和界面,取t0時刻界面位置記錄作為起始值,繼續電泳一段時間后取t1時刻界面位置記錄作為結束值,對照組和檢測組在相同時間內中和界面遷移距離分別用dblank和dNPs表示,兩個界面距離差為Δdrel=dblank-dNPs,納米顆粒表面含有酸性官能團的配體含量通過以下公式確定:
其中,表示檢測組納米顆粒表面含有酸性官能團的配體滴定消耗的濃度,cOH-表示OH-離子濃度。
4.根據權利要求1所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,所述步驟(2)中電極緩沖液離子濃度為0.05-0.1M,注入到電極液池內的電極緩沖液將鉑金電極和電泳通道完全浸沒,兩電極液池內的電極緩沖液體積等量且離子濃度相同。
5.根據權利要求1所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,電泳時施加的電源電壓為10-50V,電泳總體時間在1-5min。
6.根據權利要求1所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,檢測時采用檢測裝置進行,該裝置包括電源(1)、白光板(2)、電泳滴定儀器(3)、數碼顯微鏡(4)和電腦(5),所述電泳滴定儀器(3)放置在白光板(2)上并通過導線與電源(1)連接,所述數碼顯微鏡(4)放置于電泳滴定儀器(3)上方并與電腦連接。
7.根據權利要求6所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,所述電泳滴定儀器(3)包含電泳通道(3.1)、通道兩端的電極液池(3.2)和內置在電極液池(3.2)內的鉑金電極(3.3),所述電源(1)通過導線與鉑金電極(3.3)連接。
8.根據權利要求7所述的一種快速檢測納米顆粒表面配體含量的方法,其特征在于,所述電泳滴定儀器(3)的電泳通道(3.1)有兩個或兩個以上,通道截面形狀為圓形、矩形或梯形,通道內徑或邊長為50-500μm,通道長度為10-30mm。
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