[發明專利]一種四結太陽能電池及其制作方法在審
| 申請號: | 201910361710.X | 申請日: | 2019-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN110085704A | 公開(公告)日: | 2019-08-02 |
| 發明(設計)人: | 李俊承;吳真龍;何勝;邢永祿;郭文輝 | 申請(專利權)人: | 揚州乾照光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/0687 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 225101*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽能電池 電池 鍵合處 光電轉換效率 短波光譜 高能粒子 減少材料 歐姆接觸 鍵合層 接觸層 透光性 保證 短波 鍵合 失配 吸收 正向 制備 反射 制作 生長 | ||
本發明公開了一種四結太陽能電池及其制作方法,其中,四結太陽能電池中InGaN電池能夠有效的吸收短波光譜能量,進而改善短波的高能粒子對太陽能電池造成影響,使得四結太陽能電池光電轉換效率高;其次,GaInP/InGaAs/Ge三結電池為正向生長制備而成,進而減少材料失配造成的缺陷,保證該GaInP/InGaAs/Ge三結電池的可靠性高;以及,對InGaN電池和GaInP/InGaAs/Ge三結電池采用IZO鍵合層進行鍵合,進而保證鍵合處透光性高;此外,鍵合處采用ITO薄膜作為接觸層,在提高歐姆接觸的同時,減少對光的反射和吸收情況,保證四結太陽能電池的性能高。
技術領域
本發明涉及太陽能電池技術領域,更為具體地說,涉及一種四結太陽能電池及其制作方法。
背景技術
太陽能電池可將太陽能直接轉換為電能,是一種最有效的清潔能源形式。III-V族化合物半導體太陽能電池在目前材料體系中轉換效率最高,同時具有耐高溫性能好、抗輻照能力強等優點,被公認為是新一代高性能長壽命空間主電源,其中GaInP/InGaAs/Ge晶格匹配結構的三結電池已在航天領域得到廣泛應用。
對于目前應用最為廣泛的正向生長的三結GaInP/InGaAs/Ge電池,通常使用傳統的MOCVD(Metal-organic Chemical Vapor Deposition金屬有機化合物化學氣相沉淀)技術,在Ge底電池上面依次生長InGaAs/GaInP材料形成InGaAs中電池和GaInP頂電池,目前該類型電池技術上已經非常成熟,轉換效率在29%~31%之間,已經接近理論極限。
但是,現有的三結GaInP/InGaAs/Ge太陽能電池,由于自身結構限制,能夠利用的光譜依然有限,尤其是能量較高的短波波段,GaInP頂電池的吸收效率較低,進而對于短波的高能粒子不能夠進行有效阻擋,使得空間應用環境存在高能帶電粒子輻射,這些帶電粒子進入太陽能電池使晶格原子發生位移,形成大量的空位、填隙原子和復合體等晶格缺陷。這些缺陷可成為載流子的復合中心,導致光生載流子壽命縮短,降低太陽能電池的光電轉換效率,直接影響航天器的在軌工作壽命和可靠性
發明內容
有鑒于此,本發明提供了一種四結太陽能電池及其制作方法,有效解決現有技術存在的問題,四結太陽能電池中InGaN電池能夠有效的吸收短波光譜能量,進而改善短波的高能粒子對太陽能電池造成影響,使得四結太陽能電池光電轉換效率高;其次,GaInP/InGaAs/Ge三結電池為正向生長制備而成,進而減少材料失配造成的缺陷,保證該GaInP/InGaAs/Ge三結電池的可靠性高;以及,對InGaN電池和GaInP/InGaAs/Ge三結電池采用IZO鍵合層進行鍵合,進而保證鍵合處透光性高;此外,鍵合處采用ITO薄膜作為接觸層,進而減少對光的反射和吸收情況,保證四結太陽能電池的性能高。
為實現上述目的,本發明提供的技術方案如下:
一種四結太陽能電池的制作方法,包括:
提供一獨立電池及正向生長的GaInP/InGaAs/Ge三結電池,所述獨立電池包括襯底和位于所述襯底上的InGaN電池;
在所述InGaN電池背離所述襯底一側沉積第一ITO接觸層,及在所述GaInP/InGaAs/Ge三結電池的GaInP頂電池一側沉積第二ITO接觸層;
在所述第一ITO接觸層背離所述襯底一側形成第一IZO鍵合層,及在所述第二ITO接觸層背離所述GaInP/InGaAs/Ge三結電池一側形成第二IZO鍵合層;
將所述第一IZO鍵合層和所述第二IZO鍵合層鍵合形成IZO鍵合層;
去除所述襯底;
在所述InGaN電池背離所述IZO鍵合層一側形成正面電極結構,及在所述GaInP/InGaAs/Ge三結電池背離所述IZO鍵合層一側形成背面電極結構。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于揚州乾照光電有限公司,未經揚州乾照光電有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910361710.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種正六邊形太陽能電池片的切片方法及拼接方法
- 下一篇:半導體器件的形成方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





