[發明專利]檢測平板物體的通孔的方法、裝置和計算機可讀存儲介質在審

申請號：	201910359027.2	申請日：	2019-04-30
公開（公告）號：	CN111862196A	公開（公告）日：	2020-10-30
發明（設計）人：	王曉輝;梁冠勝;孫謙;張志進;王晉;謝巍	申請（專利權）人：	瑞典愛立信有限公司
主分類號：	G06T7/70	分類號：	G06T7/70;G06T1/00
代理公司：	北京市中咨律師事務所 11247	代理人：	于靜
地址：	瑞典斯***	國省代碼：	暫無信息
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摘要：
搜索關鍵詞：	檢測平板物體方法裝置計算機可讀存儲介質
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【說明書】：

本公開的實施例涉及檢測平板物體的通孔的方法、裝置和計算機可讀存儲介質。該方法包括獲取平板物體的第一圖像；確定第一透視變換；通過第一透視變換確定多個第一通孔的第一位置；基于第一位置確定第一通孔的第二位置；確定第二透視變換；通過第二透視變換確定多個第二通孔的第三位置；以及基于第三位置確定第四位置。本公開的方案通過使用透視變換和神經網絡的深度學習并且僅進行一次圖像拍攝，可以更快、更準確地完成對象的檢測。

技術領域

本公開一般涉及對象檢測領域，特別地，涉及檢測平板物體的通孔的方法、裝置和計算機可讀存儲介質。

背景技術

自動光學檢查(AOI)廣泛在諸如工廠的組裝生產線上用于在平板物體上的通孔檢測，例如在電路板組裝生產線上自動安裝螺釘的螺釘孔檢測。在自動螺釘驅動過程中，使用攝像機基于傳統的計算機視覺方法檢測由電路板的定位銷坐標表示的精確位置，然后計算螺釘孔的坐標，其中螺釘孔的坐標與定位銷坐標具有預先設置的偏移量。在多次拍攝獲得所有定位銷的準確坐標后，基于預先設置的偏移量計算螺釘孔的坐標，然后機械臂移動到螺釘孔的坐標處安裝螺釘孔。

但是，如果定位銷不存在、存在缺陷或變形、攝像機過度曝光或環境光照的變化而導致無法檢測定位銷，則不能獲取定位銷的準確位置。如果電路板的螺釘孔與定位銷的預定偏移量不是恒定或準確的，這例如可能由于每個電路板存在螺釘孔誤差造成，則無法通過定位銷與螺釘孔的偏移量獲得螺釘孔的準確位置。在對定位銷和螺釘孔的多次拍攝過程中，不能保證恒定的光照環境和背景也將影響對定位銷和螺釘孔的識別。另外，對定位銷和螺釘孔的圖像的多次拍攝和識別，導致檢測過程時間過長而影響檢測性能。

因此，需要對現有的檢測平板物體的通孔的方案進行改進。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的實施例旨在提供一種檢測平板物體的通孔的方法、裝置和計算機可讀存儲介質，其可以采用與傳統的基于計算機視覺的檢測方法不同的方式更精確地檢測平板物體的通孔的位置，適用于各種光照環境和背景，并且能夠有效提高檢測速度，獲得更優的檢測性能。

根據本公開的一方面，提出一種用于檢測平板物體的通孔的方法，所述平板物體的表面具有多個通孔，所述方法包括：

獲取所述平板物體的第一圖像；

確定用于將所述平板物體的參考圖像變換為所述第一圖像的第一透視變換，其中，所述參考圖像包括多個參考通孔；

通過所述第一透視變換確定所述第一圖像中的與所述多個參考通孔中的多個第一參考通孔對應的所述多個通孔中的多個第一通孔的第一位置；

基于所述第一位置確定所述第一通孔的第二位置；

基于所述第一通孔的第二位置以及與所述第一通孔對應的所述第一參考通孔的參考位置確定用于將所述參考圖像變換為所述第一圖像的第二透視變換；

通過所述第二透視變換確定所述第一圖像中的與所述第二參考通孔對應的所述多個通孔中的多個第二通孔的第三位置；以及

基于所述第三位置確定所述第二通孔的第四位置。