[發明專利]一種自適應頻響特性測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201910355570.5
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN110048769B
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 鞠軍委;張愛國;金輝;徐桂城;劉加慶;曲天陽;韓順利;張志輝;閆繼送
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221
• 代理人: 李琳

1.一種自適應頻響特性測試裝置，其特征在于，包括電光轉換模塊、自適應衰減模塊、光電探測模塊和光波元件分析儀總控模塊，所述電光轉換模塊用于將電信號轉換為光信號輸出；將輸出的光信號輸入到被測件中，作為被測件的輸入信號；所述自適應衰減模塊用于接收被測件輸出的光信號，并根據光波元件分析儀總控模塊發送的光電探測器功率探測范圍進行自適應衰減調整，將光信號衰減后輸出，并將衰減值發送到光波元件分析儀總控模塊；所述光電探測模塊用于接收自適應衰減模塊輸出的光信號，并轉換為電信號輸出到光波元件分析儀總控模塊；所述光波元件分析儀總控模塊用于根據光電探測模塊傳回的電信號和自適應衰減模塊的衰減值計算頻率響應參數；

所述自適應衰減模塊包括光開關、光探測器、反饋控制器和可調光衰減器，所述光開關的一端與可調光衰減器的光輸出端連接，另一端分別與自適應衰減模的光輸出端和光探測器的輸入端選擇連接，所述光探測器的輸出端通過反饋控制器與可調光衰減器連接；所述可調光衰減器用于接收被測件輸出的光信號，根據光波元件分析儀總控模塊發送的光電探測器功率探測范圍和反饋控制器發送的反饋信號進行衰減值調整，并將衰減值發送到光波元件分析儀總控模塊；

采用光路去嵌入方法去除自適應衰減模塊的引入帶來的影響。

2.一種利用權利要求1所述的自適應頻響特性測試裝置的測試方法，其特征在于，步驟如下：

光波元件分析儀總控模塊將光電探測器功率探測范圍發送給自適應衰減模塊；

自適應衰減模塊通過可調光衰減器調整衰減值，使得探測器探測功率值調整到光電探測模塊測量范圍內；

自適應衰減模塊將衰減值發送給光波元件分析儀總控模塊，并調整光開關使光輸出至光電探測模塊；

光波元件分析儀總控模塊進行測量，得到被測件精確的頻率響應參數。

3.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述自適應衰減模塊將可調光衰減器調整到最大衰減值，光開關調整到探測器端，探測器將探測光功率值發送給反饋控制器，反饋控制器調整光衰減器衰減值，使得探測器探測功率值調整到光電探測模塊功率探測范圍內。

4.如權利要求2所述的測試方法，其特征在于，光電探測模塊的功率探測范圍為P_S至P_E，自適應衰減模塊的輸入光功率為P₀，可調光衰減器的衰減值調節范圍為(P₀-P_S)至(P₀-P_E)。

5.如權利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述可調光衰減器的衰減值為(2P₀-P_S-P_E)/2。