[發明專利]一種自適應頻響特性測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201910355570.5
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN110048769B
• 公開（公告）日: 2021-01-22
• 發明（設計）人: 鞠軍委;張愛國;金輝;徐桂城;劉加慶;曲天陽;韓順利;張志輝;閆繼送
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: H04B10/079
• 分類號: H04B10/079
• 代理公司: 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221
• 代理人: 李琳

本公開提供了一種自適應頻響特性測試裝置及方法，包括電光轉換模塊、自適應衰減模塊、光電探測模塊和光波元件分析儀總控模塊，所述電光轉換模塊用于將電信號轉換為光信號輸出；所述自適應衰減模塊用于接收光信號，并根據光波元件分析儀總控模塊發送的光電探測器功率探測范圍進行自適應衰減調整，將光信號衰減后輸出，并將衰減值發送到光波元件分析儀總控模塊；所述光電探測模塊用于接收自適應衰減模塊輸出的光信號，并轉換為電信號輸出到光波元件分析儀總控模塊；所述光波元件分析儀總控模塊用于根據光電探測模塊傳回的電信號和自適應衰減模塊的衰減值計算頻率響應參數；提高了光電探測模塊測量功率范圍，提升了高功率頻響測試準確性，提升了測試效率，增強了儀器的測試適應性。

技術領域

本公開涉及一種自適應頻響特性測試裝置及方法。

背景技術

本部分的陳述僅僅是提供了與本公開相關的背景技術，并不必然構成現有技術。

光電探測模塊作為光波元件分析儀中的關鍵模塊，可將調制光信號轉換成射頻信號，進而進行被測件頻響特性的測量；光電探測器作為光電轉換模塊中的核心器件，由于其光功率探測范圍小，導致光電探測模塊在光功率探測范圍整體指標上表現不佳。工程中為了測量高功率的被測件，常采用添加光衰減器的方法進行降低輸入到光波元件分析儀光電探測模塊上的光功率。

但是本公開發明人在研究中發現，上述方法存在如下問題：(1)無法針對輸入光功率的大小自適應實時調整衰減值，無法適應大動態高光功率自動測試需求；(2)引入的固定光衰減器帶來的誤差校準比較困難，難以保證測量的準確性。

發明內容

為了解決現有技術的不足，本公開提供了一種自適應頻響特性測試裝置及方法，提高了光電探測模塊測量功率范圍，提升了高功率頻響測試準確性，提升了測試效率，增強了儀器的測試適應性。

為了實現上述目的，本公開采用如下技術方案：

第一方面，本公開提供了一種自適應頻響特性測試裝置；

一種自適應頻響特性測試裝置，包括電光轉換模塊、自適應衰減模塊、光電探測模塊和光波元件分析儀總控模塊，所述電光轉換模塊用于將電信號轉換為光信號輸出；所述自適應衰減模塊用于接收被測件輸出的光信號，并根據光波元件分析儀總控模塊發送的光電探測器功率探測范圍進行自適應衰減調整，將光信號衰減后輸出，并將衰減值發送到光波元件分析儀總控模塊；所述光電探測模塊用于接收自適應衰減模塊輸出的光信號，并轉換為電信號輸出到光波元件分析儀總控模塊；所述光波元件分析儀總控模塊用于根據光電探測模塊傳回的電信號和自適應衰減模塊的衰減值計算頻率響應參數。

作為可能的一些實現方式，所述自適應衰減模塊包括一組一對二光開關、光探測器、反饋控制器和可調光衰減器，所述一對二光開關的一端與可調光衰減器的光輸出端連接，另一端分別與自適應衰減模的光輸出端和光探測器的輸入端選擇連接，所述光探測器的輸出端通過反饋控制器與可調光衰減器連接；所述可調光衰減器用于接收被測件輸出的光信號，根據光波元件分析儀總控模塊發送的光電探測器功率探測范圍和反饋控制器發送的反饋信號進行衰減值調整，并將衰減值發送到光波元件分析儀總控模塊。

作為可能的一些實現方式，所述光電探測模塊包括至少一個光電探測器，用于將光信號轉化為電信號。

第二方面，本公開提供了一種自適應頻響特性測試方法；

一種自適應頻響特性測試方法，利用本公開所述的自適應頻響特性測試裝置，步驟如下：

光波元件分析儀總控模塊將光電探測器功率探測范圍發送給自適應衰減模塊；

自適應衰減模塊通過可調光衰減器調整衰減值，使得探測器探測功率值調整到光電探測模塊測量范圍內；

自適應衰減模塊將衰減值發送給光波元件分析儀總控模塊，并調整光開關使光輸出至光電探測模塊；