[發明專利]相控陣天線校準系統及校準方法

有效

• 申請號: 201910354944.1
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN111865444B
• 公開（公告）日: 2022-09-16
• 發明（設計）人: 漆一宏;于偉
• 申請（專利權）人: 深圳市通用測試系統有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12;H04B17/21;H01Q3/26;H01Q1/36;H01Q1/50;H01Q1/52;H01Q21/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤

本發明公開了一種相控陣天線校準系統及校準方法，其中，校準系統包括：天線陣列，天線陣列包括至少兩個測量天線和隔離材料，用于對待校準的相控陣天線進行預設距離內的近場校準測量；微波暗室，天線陣列與相控陣天線均設置在微波暗室內；儀表，儀表連接天線陣列和相控陣天線，以配合天線陣列對相控陣天線進行校準測量。根據本發明實施例的校準系統，通過電切換式對相控陣天線校準進行校準，有效提高校準效率，并且提高校準精度，有效滿足校準需求，簡單易實現。

技術領域

本發明涉及無線設備性能測試技術領域，特別涉及一種相控陣天線校準系統及校準方法。

背景技術

相控陣天線可以通過控制陣列天線中天線單元的饋電幅度、相位來改變整個陣列天線的方向圖形狀，即所謂的波束賦形技術，以達到波束掃描的目的。在相控陣技術應用之前，波束掃描通常通過機械轉動實現，這種轉動往往存在時延長、范圍窄、精度低等缺點。相控陣天線采用數字移相器實現天線波束的高速電控掃描，速度快、精度高，廣泛應用于車載、艦載、衛星等通信雷達、毫米波基站等等。

相控陣天線具有至少兩個天線單元，每一個天線單元都對應一個射頻通路。一個典型的相控陣天線可以用圖1表示，其中包含陣列天線，T/R(Transmitter and Receiver)組件，上下變頻以及數字處理。由于存在制造公差、裝配誤差、器件不一致性以及通道內損耗和單元間耦合等諸多方面的原因，往往會使相控陣天線的天線單元，T/R組件，接收和發射信道存在著一定程度的幅度相位差異，因此要對相控陣天線進行校準，給各個通道進行補償，使其達到使用標準。

相關技術中，，對相控陣天線各個天線單元的幅度、相位校準主要是通過單探頭測量天線機械對準的方式進行。具體地，如圖2所示，通過控制精密掃描架，使測量天線分別對準每一個天線單元，然后測試每個天線單元通路的幅相參數，進而進行幅度相位的校準處理。然而，相關技術的校準方案直觀，而且時間較長，因為需要機械對準每一個天線單元，且整個校準精度依賴機械轉動精度，校準效率和校準精確無法有效滿足校準需求，有待改進。

發明內容

本發明旨在至少在一定程度上解決相關技術中的技術問題之一。

為此，本發明的一個目的在于提出一種相控陣天線校準系統，該校準系統可以有效提高校準效率，并且提高校準精度，有效滿足校準需求。

本發明的另一個目的在于提出一種相控陣天線校準方法。

本發明的再一個目的在于提出一種計算機可讀存儲介質。

為達到上述目的，本發明一方面實施例提出了一種相控陣天線校準系統，包括：天線陣列，所述天線陣列包括至少兩個測量天線和隔離材料，用于對待校準的相控陣天線進行預設距離內的近場校準測量；微波暗室，所述天線陣列與所述相控陣天線均設置在所述微波暗室內；儀表，所述儀表連接所述天線陣列和所述相控陣天線，以配合所述天線陣列對所述相控陣天線進行校準測量。

本發明實施例的相控陣天線校準系統，通過電切換式對相控陣天線校準進行校準，從而實現快速、準確的天線單元幅度、相位校準的目的，有效完成相控陣天線所有天線單元的校準，大大提高了校準速度和校準精度，有效提高校準效率，并且有效滿足校準需求，簡單易實現。

另外，根據本發明上述實施例的相控陣天線校準系統還可以具有以下附加的技術特征：