[發明專利]相控陣天線校準系統及校準方法

有效

• 申請號: 201910354944.1
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN111865444B
• 公開（公告）日: 2022-09-16
• 發明（設計）人: 漆一宏;于偉
• 申請（專利權）人: 深圳市通用測試系統有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12;H04B17/21;H01Q3/26;H01Q1/36;H01Q1/50;H01Q1/52;H01Q21/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤

1.一種相控陣天線校準系統，其特征在于，包括：

天線陣列，所述天線陣列包括至少兩個測量天線和隔離材料，用于對待校準的相控陣天線進行預設距離內的近場校準測量；

微波暗室，所述天線陣列與所述相控陣天線均設置在所述微波暗室內；以及

儀表，所述儀表連接所述天線陣列和所述相控陣天線，以配合所述天線陣列對所述相控陣天線進行校準測量；

所述天線陣列為雙極化天線陣列，所述雙極化天線陣列包括至少兩個雙極化測量天線和所述隔離材料；

所述至少兩個雙極化測量天線的每個雙極化測量天線具有兩個相互交叉設置的天線單元，其中，所述天線單元包括：第一輻射件，所述第一輻射件內部構成第一容納腔，所述第一容納腔的腔體貫通所述第一輻射件的第一端和第二端；第二輻射件，所述第二輻射件的第一端和所述第一輻射件的第一端不連接，所述第二輻射件的第二端和所述第一輻射件的第二端電氣連接；平衡件，所述平衡件的第一端和所述第二輻射件的第二端電氣連接；以及饋電件，所述饋電件偏離天線單元中心預設距離且與所述平衡件對應設置，其中，所述饋電件包括：外芯，所述外芯內部構成第二容納腔，所述第二容納腔的腔體貫通所述外芯的第一端和所述外芯的第二端，且所述外芯的第一端和所述第一輻射件的第二端電氣連接；內芯，所述內芯貫穿所述第一容納腔和所述第二容納腔的腔體，所述內芯的第一端穿出所述第一輻射件的第一端并與所述第二輻射件耦合連接；

移動組件，所述移動組件包括第一移動臺和第二移動臺；

固定裝載裝置，所述固定裝載裝置包括第一固定裝載機構和第二固定裝載機構。

2.根據權利要求1所述的相控陣天線校準系統，其特征在于，所述雙極化測量天線插入所述隔離材料頂部，或者所述雙極化測量天線插入所述隔離材料形成的容納腔底部。

3.根據權利要求1所述的相控陣天線校準系統，其特征在于，所述雙極化測試天線還包括調諧器。

4.根據權利要求1所述的相控陣天線校準系統，其特征在于，其中，

所述雙極化天線陣列設在所述移動組件、所述固定裝載裝置、所述微波暗室內壁中的任一位置上，且所述相控陣天線設在所述移動組件、所述固定裝載裝置中的任一位置上。

5.根據權利要求1所述的相控陣天線校準系統，其特征在于，所述預設距離小于或等于10cm或者兩倍波長。

6.一種相控陣天線校準方法，其特征在于，采用如權利要求1-5任一項所述的系統，其中，方法包括以下步驟：

選擇相等數量的所述測量天線和所述相控陣天線的被測天線；

將每個所述測量天線的位置與每個所述被測天線的位置一一對應設置；以及

每次打開至少一個所述測量天線，以對對應位置的所述被測天線進行校準測量，直到每個所述被測天線完成校準測量。

7.根據權利要求6所述的相控陣天線校準方法，其特征在于，在每次打開至少一個所述測量天線時，通過電切換方式打開所述測量天線。

8.根據權利要求6所述的相控陣天線校準方法，其特征在于，在選擇相等數量的所述測量天線和所述被測天線后，還包括：

將所述天線陣列設在所述第一固定裝載機構上，且將所述相控陣天線設在所述第一移動臺上；

移動所述第一移動臺使每個所述測量天線的位置與每個所述被測天線的位置一一對應設置。

9.根據權利要求6所述的相控陣天線校準方法，其特征在于，在選擇相等數量的所述測量天線和所述被測天線后，還包括：

將所述相控陣天線設在所述第一固定裝載機構上，且將所述天線陣列設在所述第一移動臺上；

移動所述第一移動臺使每個所述測量天線的位置與每個所述被測天線的位置一一對應設置。