[發明專利]芯片采樣準位確定方法及裝置

有效

• 申請號: 201910353194.6
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN111863112B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 陸天辰
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/50
• 分類號: G11C29/50;G11C29/56
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;孫寶海

1.一種芯片采樣準位確定方法，其特征在于，包括：

獲取待測芯片的多個并行通道的數據信號，各數據信號波形相同；

按照第一間隔給各通道的數據信號設置第一測試采樣點；

根據各數據信號的第一測試采樣點，獲取各數據信號的第一采樣電壓；

根據各第一采樣電壓和準位電壓確定所述待測芯片的采樣準位，所述準位電壓用于判別所述數據信號波形中的高電壓部分和低電壓部分。

2.根據權利要求1所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，獲取待測芯片的多個并行通道的數據信號，包括：

向所述待測芯片發送寫控制信號，以使所述待測芯片中寫入模擬數據；

向所述待測芯片發送讀控制信號，以從所述待測芯片讀取所述模擬數據；

接收所述待測芯片的各通道并行輸出的與所述模擬數據對應的數據信號。

3.根據權利要求1所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，所述第一間隔小于所述數據信號的四分之一周期。

4.根據權利要求1所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據各第一采樣電壓和準位電壓確定所述待測芯片的采樣準位，包括：

將各第一采樣電壓與所述準位電壓的差值絕對值，分別與所述數據信號的幅值進行比較，獲得差值結果；

根據所述差值結果確定所述采樣準位。

5.根據權利要求4所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據所述差值結果確定所述采樣準位，包括：

選取所述差值結果中的最小值對應的第一測試采樣點作為所述采樣準位。

6.根據權利要求4所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據所述差值結果確定所述采樣準位，包括：

選取所述差值結果中的最大值對應的第一測試采樣點作為信號切換位置；

將相鄰兩個所述信號切換位置的中間值作為所述待測芯片的采樣準位。

7.根據權利要求1所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據各第一采樣電壓和準位電壓確定所述待測芯片的采樣準位，包括：

將各第一采樣電壓分別與所述準位電壓比較，獲得第一比較結果；

若所述第一比較結果為所述第一采樣電壓大于所述準位電壓，則將相應的第一測試采樣點標記為第一信號；

若所述第一比較結果為所述第一采樣電壓小于所述準位電壓，則將相應的第一測試采樣點標記為第二信號；

按照各第一測試采樣點對應的采樣位置的順序，對相應的第一信號或者第二信號進行排序；

根據排序后的第一信號和第二信號，確定所述待測芯片的采樣準位。

8.根據權利要求7所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據排序后的第一信號和第二信號，確定所述待測芯片的采樣準位，包括：

若排序后的第一信號和第二信號中，一段連續的第一信號或者一段連續的第二信號的中間位置對應一個第一測試采樣點，則將所述中間位置對應的第一測試采樣點作為所述待測芯片的采樣準位。

9.根據權利要求7所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據排序后的第一信號和第二信號，確定所述待測芯片的采樣準位，包括：

若排序后的第一信號和第二信號中，一段連續的第一信號或者一段連續的第二信號的中間位置對應兩個第一測試采樣點，則隨機選擇所述兩個第一測試采樣點中的任意一個作為所述待測芯片的采樣準位；或者

將所述兩個第一測試采樣點的中間值作為所述待測芯片的采樣準位。

10.根據權利要求7所述的芯片采樣準位確定方法，其特征在于，根據排序后的第一信號和第二信號，確定所述待測芯片的采樣準位，包括：

確定所述第一信號和所述第二信號進行切換的相鄰兩個信號切換位置；

將所述相鄰兩個信號切換位置的中間值作為所述待測芯片的采樣準位。