[發明專利]芯片采樣準位確定方法及裝置

有效

• 申請號: 201910353194.6
• 申請日: 2019-04-29
• 公開（公告）號: CN111863112B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 陸天辰
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/50
• 分類號: G11C29/50;G11C29/56
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;孫寶海

本公開的實施例提供了一種芯片采樣準位確定方法、裝置、計算機可讀介質及電子設備。該芯片采樣準位確定方法包括：獲取待測芯片的多個并行通道的數據信號，各數據信號波形相同；按照第一間隔給各通道的數據信號設置第一測試采樣點；根據各數據信號的第一測試采樣點，獲取各數據信號的第一采樣電壓；根據各第一采樣電壓確定所述待測芯片的采樣準位。本公開實施例的技術方案能夠實現待測芯片的采樣準位的自動準確定位。

技術領域

本公開涉及芯片測試技術領域，具體而言，涉及一種芯片采樣準位確定方法、裝置、計算機可讀介質及電子設備。

背景技術

通過測試機對內存芯片進行讀取數據的測試時，需要首先確定測試機的信號采樣點。由于每一顆內存芯片輸出數據信號的時間起始點都不盡相同，若采用不準確的信號采樣點對內存芯片輸出的數據信號進行采樣，測試機可能采樣到錯誤的信號，導致讀取的數據不準確，從而影響測試結果。

因此，如何能夠實現內存芯片的采樣準位的準確定位是目前亟待解決的技術問題。

發明內容

本公開實施例的目的在于提供一種芯片采樣準位確定方法、裝置、計算機可讀介質及電子設備，進而至少在一定程度上實現內存芯片的采樣準位的準確定位。

本公開的其他特性和優點將通過下面的詳細描述變得顯然，或部分地通過本公開的實踐而習得。

根據本公開實施例的一個方面，提供了一種芯片采樣準位確定方法，包括：獲取待測芯片的多個并行通道的數據信號，各數據信號波形相同；按照第一間隔給各通道的數據信號設置第一測試采樣點；根據各數據信號的第一測試采樣點，獲取各數據信號的第一采樣電壓；根據各第一采樣電壓確定所述待測芯片的采樣準位。

根據本公開實施例的一個方面，提供了一種芯片采樣準位確定裝置，包括：并行數據獲取模塊，配置為獲取待測芯片的多個并行通道的數據信號，各數據信號波形相同；第一采樣設置模塊，配置為按照第一間隔給各通道的數據信號設置第一測試采樣點；第一電壓獲取模塊，配置為根據各數據信號的第一測試采樣點，獲取各數據信號的第一采樣電壓；采樣準位確定模塊，配置為根據各第一采樣電壓確定所述待測芯片的采樣準位。

根據本公開實施例的一個方面，提供了一種計算機可讀介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如上述實施例中所述的芯片采樣準位確定方法。

根據本公開實施例的一個方面，提供了一種電子設備，包括：一個或多個處理器；存儲裝置，用于存儲一個或多個程序，當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行時，使得所述一個或多個處理器實現如上述實施例中所述的芯片采樣準位確定方法。

在本公開的一些實施例所提供的技術方案中，利用測試機可編程功能以及待測芯片的語言規則，讀取待測芯片的多個并行通道的具有相同波形的數據信號，然后按照第一間隔給各通道的數據通道分別設置第一測試采樣點，并根據各數據信號的第一測試采樣點可以獲取到各數據信號的第一采樣電壓，從而可以實現根據各第一采樣電壓來確定該待測芯片的采樣準位，一方面，這種方式可以校準測試機對不同待測芯片的采樣準位，減少測試時間，使得測試更加自動化；另一方面，還可以提高待測芯片的采樣準位的準確度，從而可以確保后續測試結果的精準度，甚至在高速測試中也能保證測試機采樣到準確的信號。

應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本公開的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。在附圖中：

圖1示意性示出了根據本公開的一個實施例的DRAM芯片的讀時序定義示意圖；

圖2示意性示出了不準確的信號采樣點的示意圖；