[發(fā)明專利]探測裝置及其檢測方法、具有探測裝置的檢測設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910345050.6 | 申請日: | 2019-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN110101402B | 公開(公告)日: | 2023-09-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃學(xué);王素銘 | 申請(專利權(quán))人: | 上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00;A61B6/03;G01V8/10 |
| 代理公司: | 北京華進(jìn)京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606 | 代理人: | 劉誠;王程 |
| 地址: | 201807 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探測 裝置 及其 檢測 方法 具有 設(shè)備 | ||
1.一種探測裝置檢測方法,其特征在于,所述探測裝置(10)包括:
多個(gè)探測器(110),呈陣列排布;
控制電路板(120),與所述多個(gè)探測器(110)分別電連接;以及
狀態(tài)顯示器(130),與所述控制電路板(120)電連接,所述狀態(tài)顯示器(130)包括多個(gè)顯示點(diǎn)(131),一個(gè)所述顯示點(diǎn)(131)用于實(shí)現(xiàn)一個(gè)所述探測器(110)的狀態(tài)顯示;以及
多個(gè)光電轉(zhuǎn)換開關(guān)(140),每一個(gè)光電轉(zhuǎn)換開關(guān)(140)與一個(gè)所述探測器(110)電連接;
所述探測裝置檢測方法,包括:
步驟S100,對所述探測裝置(10)供電;
步驟S200,所述多個(gè)探測器(110)探測檢測射線的光信號,并將所述光信號轉(zhuǎn)換為電信號;
步驟S300,斷開所述多個(gè)光電轉(zhuǎn)換開關(guān)(140),對所述探測裝置(10)進(jìn)行本底噪聲檢測,并判斷所述探測裝置(10)是否通過所述本底噪聲檢測;
步驟S400,接通所述多個(gè)光電轉(zhuǎn)換開關(guān)(140),對所述探測裝置(10)的所述電信號進(jìn)行均值檢測和噪聲檢測,并判斷所述探測裝置(10)是否通過所述均值檢測和所述噪聲檢測;
步驟S500,若所述多個(gè)探測器(110)中的某一個(gè)或多個(gè)探測器(110)均通過所述本底噪聲檢測、所述均值檢測和所述噪聲檢測,則通過所述狀態(tài)顯示器(130)中的某一個(gè)或多個(gè)所述顯示點(diǎn)(131)進(jìn)行正常狀態(tài)的顯示。
2.如權(quán)利要求1所述的探測裝置檢測方法,其特征在于,在所述步驟S300和所述步驟S400之后,還包括:
步驟S420,若所述多個(gè)探測器(110)中的某一個(gè)或多個(gè)探測器(110)沒有通過所述均值檢測、所述噪聲檢測或者所述本底噪聲檢測中的任意一種檢測,則通過所述狀態(tài)顯示器(130)中的某一個(gè)或多個(gè)所述顯示點(diǎn)(131)進(jìn)行非正常狀態(tài)的顯示。
3.如權(quán)利要求2所述的探測裝置檢測方法,其特征在于,所述探測裝置(10)還包括:連接接口(150),設(shè)置于所述控制電路板(120),與具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)電連接,用于傳輸數(shù)據(jù)信號和控制信號;
所述探測裝置檢測方法,還包括:
步驟S110,所述具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)對所述探測裝置(10)供電;
執(zhí)行所述步驟S200、步驟S300和步驟S400的步驟;
步驟S510,若所述多個(gè)探測器(110)中的某一個(gè)或多個(gè)探測器(110)通過所述噪聲檢測、所述均值檢測和所述噪聲檢測,則通過所述連接接口(150)將對所述多個(gè)探測器(110)的檢測結(jié)果傳送至所述具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)。
4.如權(quán)利要求3所述的探測裝置檢測方法,其特征在于,所述探測裝置(10)還包括:模式切換開關(guān)(170),與所述控制電路板(120)電連接;
所述探測裝置檢測方法,在所述步驟S100,對所述探測裝置(10)供電,之前還包括:
步驟S10,檢測所述探測裝置(10)與所述具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)是否電連接;
步驟S20,若所述探測裝置(10)與所述具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)電連接,則所述具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)對所述探測裝置(10)供電,所述探測裝置(10)處于設(shè)備檢測模式;若所述探測裝置(10)與所述具有探測裝置的檢測設(shè)備(100)沒有電連接,則通過供電模塊(160)對所述探測裝置(10)供電,所述探測裝置(10)處于自檢模式。
5.如權(quán)利要求1所述的探測裝置檢測方法,其特征在于,所述控制電路板(120),用于對所述多個(gè)探測器(110)進(jìn)行檢測分析,以判斷所述多個(gè)探測器(110)的工作狀態(tài)。
6.如權(quán)利要求1所述的探測裝置檢測方法,其特征在于,所述多個(gè)光電轉(zhuǎn)換開關(guān)(140)與所述控制電路板(120)電連接,所述多個(gè)光電轉(zhuǎn)換開關(guān)(140)用于控制是否將所述多個(gè)探測器(110)的所述電信號接入所述控制電路板(120)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司,未經(jīng)上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910345050.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





