[發(fā)明專利]探測裝置及其檢測方法、具有探測裝置的檢測設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910345050.6
• 申請日: 2019-04-26
• 公開（公告）號: CN110101402B
• 公開（公告）日: 2023-09-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃學;王素銘
• 申請（專利權(quán)）人: 上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/03;G01V8/10
• 代理公司: 北京華進京聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606
• 代理人: 劉誠;王程

本申請涉及一種探測裝置及其檢測方法、具有探測裝置的檢測設(shè)備。所述探測裝置包括多個探測器、控制電路板和狀態(tài)顯示器。所述探測裝置可以通過所述控制電路板和所述狀態(tài)顯示器實現(xiàn)對所述多個探測器的檢測。本申請中在所述探測裝置安裝到具有探測裝置的檢測之前，操作人員可以檢查每一個所述探測器的工作是否正常。本申請中提供的所述探測裝置避免了所述探測裝置集成到具有探測裝置的檢測之后才發(fā)現(xiàn)所述探測裝置存在壞點情況的發(fā)生。本申請中提供的所述探測裝置及其檢測方法避免了所述探測裝置的反復(fù)拆裝，提升了具有探測裝置的檢測的工作效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及醫(yī)療設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種探測裝置及其檢測方法、具有探測裝置的檢測設(shè)備。

背景技術(shù)

電子計算機斷層掃描技術(shù)通常被稱為CT(Computed?Tomography)技術(shù)，是從1895年倫琴發(fā)現(xiàn)檢測射線以來在檢測射線診斷方面的最大突破，是近代飛速發(fā)展的電子計算機控制技術(shù)和檢測射線檢查攝影技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物。我國在70年代末引進了CT技術(shù)及CT設(shè)備。在短短的30年里，全國各地乃至縣鎮(zhèn)級醫(yī)院共安裝了各種型號的CT設(shè)備數(shù)千臺。從此CT設(shè)備成為醫(yī)學診斷中不可缺少的設(shè)備。

CT設(shè)備的探測器是由多個小的探測器拼接而成。目前最大的探測器的排數(shù)已增加到320排，每臺CT設(shè)備都需要數(shù)十個小的探測器。在探測器生產(chǎn)過程中，在探測模塊入庫檢查過程中，以及在安裝到CT設(shè)備之前，操作人員都需要檢查探測器的每個像素點是否正常。在這些情況下探測器無法連接到CT設(shè)備的整機系統(tǒng)上進行功能測試。如果等到探測器集成到CT設(shè)備的整機系統(tǒng)上之后才發(fā)現(xiàn)探測器有像素壞點，則需重新拆裝，嚴重影響設(shè)備工作效率。

在探測器生產(chǎn)、裝配、系統(tǒng)集成過程以及系統(tǒng)使用過程中，很容易產(chǎn)生由于生產(chǎn)工藝、操作失誤、器件老化等原因，致使探測器元件數(shù)據(jù)異常而不能及時發(fā)現(xiàn)，嚴重情況下會導(dǎo)致圖像偽影甚至系統(tǒng)宕機。而傳統(tǒng)的探測器并不具備對探測器自身進行檢測的能力。這部分能力的缺失，導(dǎo)致了在探測器生產(chǎn)、裝配、系統(tǒng)集成過程以及系統(tǒng)使用過程中發(fā)生探測器數(shù)據(jù)異常而不能及時發(fā)現(xiàn)的問題。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對傳統(tǒng)的探測器并不具備對探測器自身進行檢測的能力，而導(dǎo)致了在探測器生產(chǎn)、裝配、系統(tǒng)集成過程以及系統(tǒng)使用過程中發(fā)生探測器數(shù)據(jù)異常而不能及時發(fā)現(xiàn)的問題，提供一種探測裝置及其檢測方法、具有探測裝置的檢測設(shè)備。

一種探測裝置，包括：

多個探測器，所述多個探測器陣列排布，用于探測檢測射線的光信號，并將所述光信號轉(zhuǎn)換為電信號；

控制電路板，與所述多個探測器分別電連接，用于對所述多個探測器進行檢測分析，以判斷所述多個探測器的工作狀態(tài)；以及

狀態(tài)顯示器，與所述控制電路板電連接，用于顯示所述多個探測器的工作狀態(tài)。

在一個實施例中，所述探測裝置還包括：

多個光電轉(zhuǎn)換開關(guān)，每一個光電轉(zhuǎn)換開關(guān)與一個所述探測器電連接，所述多個光電轉(zhuǎn)換開關(guān)與所述控制電路板電連接，所述多個光電轉(zhuǎn)換開關(guān)用于控制是否將所述多個所述探測器的所述電信號接入所述控制電路板。

在一個實施例中，所述探測裝置還包括：

供電模塊，與所述多個探測器、所述控制電路板和所述狀態(tài)顯示器分別電連接。

在一個實施例中，所述探測裝置還包括：

連接接口，設(shè)置于所述控制電路板，與具有探測裝置的檢測設(shè)備電連接，用于傳輸數(shù)據(jù)信號和控制信號。

在一個實施例中，所述探測裝置還包括：

模式切換開關(guān)，與所述控制電路板電連接，用于控制所述探測裝置處于自檢模式、設(shè)備檢測模式或者正常工作模式。

一種探測裝置檢測方法，所述探測裝置包括：